掃面探針顯微鏡

掃面探針顯微鏡是一種用於化學、生物學、材料科學、能源科學技術領域的分析儀器，於2014年9月26日啟用。

基本介紹

• 中文名：掃面探針顯微鏡
• 產地：美國
• 學科領域：化學、生物學、材料科學、能源科學技術
• 啟用日期：2014年9月26日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

掃描器解析度：XY：0.2nm，Z：0.2？；整機噪音：≤0.2 ？；掃描器精度< span=>±0.5%；低干涉小範圍掃描器噪音水平：XY少於1 ？ RMS，Z向少於1 ？RMS； 低干涉大範圍掃描器噪音水平：XY少於1 nm RMS，Z向少於1 ？RMS。

主要功能

1、具有高分辨地測試樣品表面微區(納米及亞微米尺度)三維形貌； 2、準確地對樣品表面物理化學特性進行研究，如測試多種材料表面組分區別、溫度、表面電勢、磁場力、靜電力、摩擦力、電流、電容等等。 3、在各種可控氣氛（如惰性氣體、濕氣、特殊氣體、腐蝕氣體、有害氣體等等）、液體、變溫和電化學體系中進行特殊測試。