掃描式探針顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2004年6月30日啟用。
基本介紹
- 中文名：掃描式探針顯微鏡
- 產地：美國
- 學科領域：材料科學
- 啟用日期：2004年6月30日
- 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
Nanoscope IV NS4-1-504。
主要功能
PFM, EFM, MFM, Fastscan, Force Modulation。
掃描式探針顯微鏡
相關詞條
- 掃面探針顯微鏡
掃面探針顯微鏡是一種用於化學、生物學、材料科學、能源科學技術領域的分析儀器，於2014年9月26日啟用。技術指標 掃描器解析度：XY：0.2nm，Z：0.2？；整機噪音：≤0.2 ？；掃描器精度< span=>±0.5%；低干涉小範圍掃描器噪音...
- 掃描電子顯微鏡
掃描電子顯微鏡（SEM）是一種介於透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品，通過光束與物質間的相互作用，來激發各種物理信息，對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質微觀形貌表征的目的。
- 掃描式探針顯微鏡
掃描式探針顯微鏡 掃描式探針顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2004年6月30日啟用。技術指標 Nanoscope IV NS4-1-504。主要功能 PFM, EFM, MFM, Fastscan, Force Modulation。
- 掃描型探針顯微鏡
掃描型探針顯微鏡 掃描型探針顯微鏡是一種用於工程與技術科學基礎學科、材料科學領域的分析儀器，於2003年11月1日啟用。技術指標 0.1nm/0.01nm。主要功能 形貌分析。
- 掃描隧道顯微鏡
掃描隧道顯微鏡 (Scanning Tunneling Microscope, 縮寫為STM) 是一種掃描探針顯微術工具，掃描隧道顯微鏡可以讓科學家觀察和定位單個原子，它具有比它的同類原子力顯微鏡更加高的解析度。此外，掃描隧道顯微鏡在低溫下（4K）可以利用探針尖端...
- 原子力掃描探針顯微鏡
原子力掃描探針顯微鏡是一種用於生物學領域的分析儀器，於2012年12月21日啟用。技術指標 1. 大號掃描器 掃描範圍: 100 μm x 100 μm Z軸範圍: 7 μm 噪聲: 0.5？ RMS 2. 小號掃描器 掃描範圍: 10 μm x 10 μm Z軸...
- 多模式掃描探針顯微鏡
多模式掃描探針顯微鏡是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器，於2005年11月15日啟用。技術指標 橫向(X、Y)解析度：0.1-0.3nm縱向(Z)解析度：0.01nm3.樣品受力大小：1e-9nN4.放大倍數：1e95.掃描範圍：50X50X3um6....
- 超低溫超高真空掃描探針顯微鏡
超低溫超高真空掃描探針顯微鏡是一種用於物理學領域的分析儀器，於2013年3月5日啟用。技術指標 ：(1). 工作溫度：5K-300K，具有原子解析度(垂直小於0.01nm，面內小於0.1nm)， 掃描範圍：大於2微米x 2微米(室溫下)。 (2). 原位...
- 快速掃描生物型掃描探針顯微鏡
快速掃描生物型掃描探針顯微鏡 快速掃描生物型掃描探針顯微鏡是一種用於物理學領域的分析儀器，於2018年10月9日啟用。技術指標 最快掃描156Hz。主要功能 掃圖、粘附力測試等。
- 控制氣氛掃描探針顯微鏡
控制氣氛掃描探針顯微鏡是一種用於中醫學與中藥學領域的分析儀器，於2009年11月3日啟用。技術指標 樣品倉具真空、溫度、濕度等控制功能；測定模式：接觸、動態、相位、力調製、磁力、水平力模式；解析度：水平方向0.2nm，垂直方向0.01nm...
- 生物掃描探針顯微鏡
生物掃描探針顯微鏡是一種用於材料科學、生物學、化學、基礎醫學領域的分析儀器，於2006年6月12日啟用。技術指標 Nanoscope IVa。主要功能 形貌掃描；表面粗糙度分析；表面電勢和形貌分析；納米力學性質；力曲線分析；化學探針掃描；微納米...
- 高真空型掃描探針顯微鏡
高真空型掃描探針顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2013年11月21日啟用。技術指標 該系統由分子束外延（MBE）樣品製備室，表面分析室和低溫STM室三個超高真空（5.0′10-11 mbar）腔體組成 MBE樣品製備室：裝備有三個電子束...
- 快速掃描環境控制掃描探針顯微鏡
快速掃描環境控制掃描探針顯微鏡是一種用於物理學、生物學、材料科學領域的分析儀器，於2018年9月28日啟用。技術指標 通過密封單元實現氣體和液體灌注；可將樣本溫度控制在0-250°C；與刺激性化學物質高度兼容；接觸模式DART™脈衝頻率調製...
- 正置-倒置一體化多模式掃描探針顯微鏡
正置-倒置一體化多模式掃描探針顯微鏡是一種用於化學領域的分析儀器，於2015年12月29日啟用。技術指標 工作模式：正置/倒置；SPM反饋模式：STM/AFM/SFM；壓電雷射掃描：量程50 um，PMT成像；光譜儀：焦長520 mm，4光柵系統；掃描器：...
- 多功能掃描探針
SECM掃描電化學顯微鏡16.Photoconductive AFM光電流檢測17.納米刻蝕功能。主要功能 全國範圍內，掃描探針顯微鏡的附加功能配備最全的設備之一，包含形貌功能，磁學，電學，力學，電化學等，其中的掃描電化學功能，是目前唯一對外開的實驗室。
- 多場耦合掃描探針式顯微鏡
多場耦合掃描探針式顯微鏡是一種用於化學、材料科學、冶金工程技術、物理學領域的分析儀器，於2008年12月31日啟用。技術指標 濕度控制：0-99%；傳輸數據長度：16位，所有通道；圖像像素解析度：最大1024×1024；掃描範圍：最大90μm；...
- 環境型掃描探針顯微鏡
環境型掃描探針顯微鏡 環境型掃描探針顯微鏡是一種用於數學領域的分析儀器，於2012年12月01日啟用。技術指標 150um*150um，120K-500K, SPM的所有功能。主要功能 溫度從120K-500 K可調，可以在不同氣氛下觀察。
- 超高真空低溫掃描探針顯微鏡
超高真空低溫掃描探針顯微鏡是一種用於化學領域的分析儀器，於2017年4月28日啟用。技術指標 真空：1×10-10 mbar。最低工作溫度：5 K。溫度穩定性：10 mK。可變溫度範圍：5K-300K。液氦消耗量：小於0.1L/小時 (5K)。掃描範圍：1 ...
- 低溫強磁場掃描探針顯微鏡
低溫強磁場掃描探針顯微鏡是一種用於物理學、化學領域的計量儀器，於2014年9月18日啟用。技術指標 1. 掃描探測溫度可降至1.8K；2. 可加外部垂直磁場，最高可達8T。主要功能 1. 具有原子級的超高空間解析度，並能實時觀測表面形貌，...
- 低溫磁場掃描探針顯微鏡
低溫磁場掃描探針顯微鏡是一種用於計算機科學技術領域的分析儀器，於2014年12月18日啟用。技術指標 8T垂直與樣品表面的磁場。 超高真空，各腔達到1x10-10torr的真空。 低溫達到2K。 掃描頭z方向的分辨小於0.02nm，XY的分辨小於0.05nm...
- 智慧型型掃描探針顯微鏡
智慧型型掃描探針顯微鏡是一種用於物理學、材料科學、自然科學相關工程與技術領域的分析儀器，於2018年6月15日啟用。技術指標 MultiMode 8掃描探針顯微鏡系統技術參數： 擁有Tapping Mode、Contact Mode和Scanasyst Mode測試模式；橫向最大掃描...
- 測量用掃描探針顯微鏡(MSPM)的研究
《測量用掃描探針顯微鏡(MSPM)的研究》是依託天津大學，由胡小唐擔任項目負責人的面上項目。項目摘要 測量型掃描探針顯微鏡在納米加工、納米材料學及生命科學領域有著廣泛套用前景。在本課題的研究工作中，從多方面對現有的掃描探針顯微鏡的...
- 低溫掃描探針顯微鏡系統
低溫掃描探針顯微鏡系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2017年1月22日啟用。技術指標 本台原位掃描隧道電子顯微鏡是一台多功能掃描探針顯微鏡，可用於各種外延生長低維半導體材料的表面形貌表征、IV測量、高分辨原子成像等，...
- 掃描探針顯微鏡-納米技術手冊-第3冊
《掃描探針顯微鏡-納米技術手冊-第3冊》是哈爾濱工業大學出版社出版的圖書，作者是布尚 內容簡介 《Springer手冊精選系列•納米技術手冊:掃描探針顯微鏡(第3冊)(第3版影印版)》內容主要包括：掃描探針顯微鏡——工作原理、檢測方法和探測...
- 掃描探針顯微鏡控制系統
掃描探針顯微鏡控制系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2017年12月13日啟用。技術指標 ADC解析度≥16-bit，控制器噪音水平低於6nV/sqrt [Hz]，可以測掃描隧道譜（STS），AFM模式微懸臂調製頻率：非接觸式4kHz– 3MHz，...
- 高速掃描探針顯微鏡中的控制技術研究
《高速掃描探針顯微鏡中的控制技術研究》是依託電子科技大學,由徐紅兵擔任醒目負責人的面上項目。項目摘要 掃描探針顯微鏡（SPM）在微電子學、微機械學、新型材料、電磁學、化學和生物醫學、納米技術、 納米製造和納米操作等領域具有廣泛的...
- 掃描探針顯微技術理論與套用
掃描探針顯微鏡自20世紀80年代初出現以來，在短短20年的時間裡，一直是各國科學家的研究熱點，並迅速發展成為一個含20多個品種的龐大顯微鏡家族。本書共分七章，依次向讀者展現：顯微鏡的發展歷史；系統介紹掃描隧道顯微鏡、原子力顯微鏡和...
- 掃描式透射電子顯微鏡
掃描式透射電子顯微鏡，是一種光學儀器。掃描式透射電子顯微鏡（scanning transmission electron microscope）使用高亮度的冷電子光源，匯聚成極細的電子探針後對樣品進行掃描，然後收集穿過樣品的電子，同時在樣品正方裝有電子能量分析器。這種...
