超高真空低溫掃描探針顯微鏡

超高真空低溫掃描探針顯微鏡是一種用於化學領域的分析儀器，於2017年4月28日啟用。

基本介紹

• 中文名：超高真空低溫掃描探針顯微鏡
• 產地：德國
• 學科領域：化學
• 啟用日期：2017年4月28日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

真空：1×10-10 mbar。最低工作溫度：5 K。溫度穩定性：10 mK。可變溫度範圍：5K-300K。液氦消耗量：小於0.1L/小時 (5K)。掃描範圍：1 μm ×1 μm×0.1 μm (5K)。熱漂移：0.2 nm/小時。振動噪音：2 pm。最小隧道電流：1 pA。STM空間分辨：原子級分辨（0.1 nm）。樣品處理溫度： 1800 K。

主要功能

實現在超高真空環境液氦溫度下（~5K）和液氮溫度下（77K）的掃描隧道顯微學研究，可以得到穩定可靠的原子分辨STM和AFM圖像，可以進行掃描隧道譜（STS），非彈性隧道譜（IETS）、分子與原子操縱、自旋極化STM、STM與光學譜的結合等實驗。