低溫強磁場掃描探針顯微鏡

低溫強磁場掃描探針顯微鏡是一種用於物理學、化學領域的計量儀器，於2014年9月18日啟用。

基本介紹

• 中文名：低溫強磁場掃描探針顯微鏡
• 產地：日本
• 學科領域：物理學、化學
• 啟用日期：2014年9月18日
• 所屬類別：計量儀器 > 電磁學計量儀器

技術指標

1. 掃描探測溫度可降至1.8K；2. 可加外部垂直磁場，最高可達8T。

主要功能

1. 具有原子級的超高空間解析度，並能實時觀測表面形貌，可用於研究表面物理和化學性質；2. 具有極高的能量解析度，可以進行掃描隧道譜探測，可用於研究樣品的電學性質；3. 可實施單個原子的操控；4.可進行超高真空分子束外延生長和樣品退火處理，以及層狀樣品的超高真空解理。