超高真空低溫掃描探針顯微鏡系統

超高真空低溫掃描探針顯微鏡系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2016年12月28日啟用。

基本介紹

• 中文名：超高真空低溫掃描探針顯微鏡系統
• 產地：中國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2016年12月28日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

1、系統掃描範圍:5微米 *5微米（室溫）、2微米 * 2微米（77 K）、1微米*1微米(4 K)； 2、STM成像空間解析度：＜1 ？（橫向）、＜0.1 ？（ 縱向）； 3、系統噪聲水平：電子學噪聲＜500fA，機械噪聲＜5pm； 4、STM針尖可隨時更換，針尖和樣品的間距可調範圍達1cm,方便進行原位的蒸發； 5、殘留機械振動：＜2 pm。

主要功能

1 表征表面形貌結構；2 表征表面電子態性質。