超高真空掃描探針顯微鏡

超高真空掃描探針顯微鏡是一種用於材料科學、物理學領域的分析儀器，於2011年12月15日啟用。

基本介紹

• 中文名：超高真空掃描探針顯微鏡
• 產地：中國
• 學科領域：材料科學、物理學
• 啟用日期：2011年12月15日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 光學顯微鏡

技術指標

工作溫度為室溫，樣品粗定位範圍＞6 mm×6 mm，單管掃描範圍＞6 μm×6 μm×2 μm。STM模式下可實現Si（1 1 1）和Au（1 1 1）表面的原子分辨；AFM接觸模式下可實現雲母和Au（1 1 1）表面的原子分辨；AFM非接觸模式下可實現Si（1 1 1）表面的原子分辨。能經受不低於420K 烘烤。極限真空<2×10-8Pa（烘烤後）。具有機械手用來進行樣品、針尖或懸壁梁的傳輸，其行程>160mm.。

主要功能

固體表面的微觀形貌測定、部分樣品的表面電子結構、掃描隧道譜測量。