環境掃描電鏡

環境掃描電鏡是一種用於物理學領域的分析儀器，於2014年3月19日啟用。

基本介紹

• 中文名：環境掃描電鏡
• 產地：中國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2014年3月19日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

解析度：高真空模式：3.0nm（SE，30kV），4.0nm（BSE，30kV），8.0nm（SE，3kV） 低真空模式：3.0nm（SE，30kV），4.0nm（BSE，30kV） 環境真空模式：3.0nm（SE，30kV）。

主要功能

主要用於各種固體材料的顯微形貌分析和顯微結構分析，以及元素分布、顯微力學性能。