場發射透射電鏡和掃描電鏡

場發射透射電鏡和掃描電鏡是一種用於物理學、化學工程領域的分析儀器，於2013年3月6日啟用。

基本介紹

• 中文名：場發射透射電鏡和掃描電鏡
• 產地：美國
• 學科領域：物理學、化學工程
• 啟用日期：2013年3月6日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡

技術指標

1、點解析度：0.24nm 2、線解析度：0.102nm 3、信息解析度：0.14nm。

主要功能

透射電鏡功能及套用範圍： 1、高性能的透射電子成像、掃描透射成像和納米分析 2、所有的先進分析技術集成於一體: TEM、HR-TEM、STEM、HR-STEM、電子衍射、EFTEM、EDS和EELS頻譜圖、全息技術和Lorentz透鏡技術、三維重構技術、低劑量曝光技術、冷凍電鏡技術 3、多用戶環境下的方便和安全操作 掃描電鏡功能及套用範圍： 掃描電鏡可在高真空、低真空和環境真空條件下對各種樣品進行觀察和分析，所有真空條件下的二次電子、背散射電子觀察和微觀分析。