掃描型電子顯微鏡是一種用於生物學領域的分析儀器,於2017年7月14日啟用。
基本介紹
- 中文名:掃描型電子顯微鏡
- 產地:荷蘭
- 學科領域:生物學
- 啟用日期:2017年7月14日
- 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡
掃描型電子顯微鏡是一種用於生物學領域的分析儀器,於2017年7月14日啟用。
掃描型電子顯微鏡是一種用於生物學領域的分析儀器,於2017年7月14日啟用。技術指標 第四代 Phenom Pro 是一款使用高亮度 CeB6 燈絲的高解析度台式掃描電鏡。觀察納米或者亞微米樣品的微觀結構,放大倍數要求可達130,000 倍。基於新一代...
掃描式電子顯微鏡是一種用於材料科學、紡織科學技術領域的分析儀器,於2016年10月28日啟用。技術指標 放大倍數:5-300000倍;解析度:高真空:3nm(30KV)/8nm(3KV)/15nm(1KV) 低真空:4.0nm(30KV) ;電子槍:全自動,亦可手動調整...
掃描電子顯微電鏡是一種用於化學學科領域的電子光學儀器,於2016年3月15日啟用。技術指標 解析度:二次電子(SE)像 15 kV時優於1.0 nm;1 kV時優於1.4 nm(非減速模式) 背散射(BSE)像: 1 kV時優於3.5 nm;15 kV時優...
台式掃描電子顯微鏡(Desktop Scanning Electron Microscope)是一種體積小巧,可安放在實驗檯面上操作的電子顯微鏡。其原理和傳統(落地式)掃描電子顯微鏡相同。部件包括:電子發射、電磁透鏡、信號探測、真空系統、計算機控制系統。台式掃描電子...
掃描電子顯微鏡及電子能譜儀是一種用於材料科學、礦山工程技術、冶金工程技術領域的分析儀器,於2015年5月8日啟用。技術指標 掃描電鏡設備主要技術參數:1、解析度:二次電子(SE)像解析度在高真空時:30kV時優於3.0nm,3kV時優於10....
ESEM是環境掃描電子顯微鏡(EnvironmentalScanningElectronMicroscope)的英文縮寫。由於在它物鏡的下極靴處裝有一壓差光闌(pressurelimitedaperture),使得在保證電子槍區高真空的同時,允許樣品室內有氣體流動,最高達50Torr,一般1Torr~20Torr,因此,...
電子顯微鏡按結構和用途可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發射式電子顯微鏡等。透射式電子顯微鏡常用於觀察那些用普通顯微鏡所不能分辨的細微物質結構;掃描式電子顯微鏡主要用於觀察固體表面的形貌,也能與X射線...
掃描電子顯微鏡3是一種用於化學、生物學、農學、環境科學技術及資源科學技術學科領域的電子光學儀器,於2016年8月15日啟用。技術指標 解析度:3.0 nm @ 30 KV (SE 與W)、4.0 nm @ 30 KV (VP with BSD );加速電壓:0.2-...
CD-SEM(特徵尺寸測量用掃描電子顯微鏡)是一種根據圖像的灰度(grey-scale)來確定圖形的邊界,進而計算出線寬的掃描電子顯微鏡。測量圖形的尺寸,一般是依靠高解析度的電子顯微鏡(scanning electron microscope, CD-SEM)來測量光刻膠圖形的...
第一台掃描電子顯微鏡是1938年由德國人M.von阿爾登研製成功的。通常掃描電子顯微鏡附有X射線能譜和波譜分析裝置,可在觀察形貌的同時,快速得出該區域的化學成分。另外,在掃描電子顯微鏡上還可進行電子通道花樣分析,從而可研究試樣微區的...
場發射環境掃描電子顯微鏡是一種用於表面形貌分析的設備。套用 可對各種各樣的樣品進行靜態和動態觀察和分析,在一定壓力的水蒸氣條件下進行各種物質的表面形貌分析和微區成分分析,避免樣品在真空條件下發生失水而發生表面形貌的變化,特別對...
JEOL掃描電子顯微鏡是一種用於生物學、物理學、化學、基礎醫學領域的分析儀器,於2019年7月6日啟用。技術指標 電子光學系統 二次電子解析度 3.0nm@30kV;8.0nm@3kV;15nm@1kV(鎢燈絲) 2.0nm@30kV;6.0nm@3kV;9nm@1kV(六硼化...
日立超高分辨場發射掃描電子顯微鏡是一種用於物理學、化學、生物學、農學領域的分析儀器,於2015年12月1日啟用。技術指標 超高解析度成像。主要功能 ⑴生物:種子、花粉、細菌…… ⑵醫學:血球、病毒…… ⑶動物:大腸、絨毛、細胞、纖維...
JEOL掃描式電子顯微鏡是一種用於機械工程領域的分析儀器,於2018年7月13日啟用。技術指標 高真空解析度 3.0nm in SEI (二次電子圖像)|JSM-IT300 解析度高真空模式 3.0 nm (30 kV) 8.0nm(3.0 kV) 15.0 nm(1.0 kV) ...
掃描電子顯微鏡EVO LS 10 掃描電子顯微鏡EVO LS 10是一種用於生物學學科領域的顯微鏡及圖象分析儀器,於2016年10月19日啟用。分析項目 樣品表面形貌掃描。分析標準 遺傳-雷射掃描共聚焦顯微鏡樣品的標準。
掃描發射電子顯微鏡是一種用於物理學領域的分析儀器,於2007年9月28日啟用。技術指標 解析度二次電子(SE)成像:高真空模式:30kV時 1.2 nm;1kV時 3.0nm 低真空模式:30kV時 1.5 nm;3kV時 3.0nm ESEM?環境真空模式: 30kV時...
環境掃描式電子顯微鏡是一種用於物理學、地球科學、材料科學領域的分析儀器,於2003年01月15日啟用。技術指標 解析度:3.5nm(30kv,高真空模式);放大倍率:5~200000倍 加速電壓:30KV 樣品最大尺寸:X=50mm,Y=50mm,Z=50mm ...
掃描式電子顯微鏡系統 掃描式電子顯微鏡系統是一種用於物理學、化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2011年3月10日啟用。技術指標 放大倍數30-300000,解析度3nm。主要功能 對材料進行微觀形貌分析。
全自動台式掃描電子顯微鏡是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2015年12月10日啟用。技術指標 放大倍數20×-100000× 解析度優於18nm。主要功能 功能更全的光學顯微鏡,提高后的光學顯微鏡有聚焦功能,放大倍數在20-120...
掃描式電子顯微鏡-X射線能譜儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2010年3月17日啟用。技術指標 硬體:倍率:15~100000,觀察範圍:9(H)×7(V)mm~1.3(H)×1(V)mm,解析度:8nm,觀察兩次電子圖像和反射電子...
掃描式透射電子顯微鏡,是一種光學儀器。掃描式透射電子顯微鏡(scanning transmission electron microscope)使用高亮度的冷電子光源,匯聚成極細的電子探針後對樣品進行掃描,然後收集穿過樣品的電子,同時在樣品正方裝有電子能量分析器。這種...
掃描電子顯微鏡[學]掃描電子顯微鏡[學](scanning electron microscopy,sem,scanning electron microscopy,sem)是1993年公布的電子學名詞。公布時間 1993年,經全國科學技術名詞審定委員會審定發布。出處 《電子學名詞》
超高解析度掃描電子顯微鏡是專門為現今技術研究和發展設計的超高解析度儀器。產品介紹 冷場發射掃描電子顯微鏡m213451是專門為現今技術研究和發展設計的超高解析度儀器。獨特之處在於使用複合檢測器允許同時顯示二次電子和背散射電子成像。可以以...
多功能掃描式電子顯微鏡 多功能掃描式電子顯微鏡是一種用於農學、林學、材料科學領域的分析儀器,於2012年12月07日啟用。技術指標 1.加速電壓:200V~30kV;2.放大倍數:6~100萬倍,誤差 主要功能 放大倍數;解析度。
鎢絲燈掃描式電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2013年5月20日啟用。技術指標 高真空(SE): 3 nm @ 30 kV / 2 nm @ 30 kV 8 nm @ 3 kV / 5 nm @ 3 kV 低真空模式(LVSTD,BSE): 3.5 nm @ 30 ...
場發射槍掃描電子顯微鏡適用於金屬、陶瓷、半導體、礦物、生物、高分子、複合材料和納米級一維、二維和三維材料的表面形貌進行觀察(二次電子像、背散射電子像); 可進行微區的點、線、面成分分析; 指定元素在形貌上成象; 晶體材料的...
日本JEOL掃描電子顯微鏡是一種用於安全科學技術領域的分析儀器,於2007年11月13日啟用。技術指標 放大倍數5-10萬倍;三級物鏡光欄;高低真空切換;加速電壓0.5→30KV。主要功能 金屬材料,納米材料,微觀形貌分析及微區成份分析。
掃描式電子顯微鏡及運費是一種用於化學、材料科學、冶金工程技術、物理學領域的分析儀器,於2011年5月31日啟用。技術指標 解析度:3.0nm(30kV);2.0nm(30kV);4.5nm(30kV)加速電壓:0.2-30kV放大倍數:5-1,000,000X射線...
掃描式顯微鏡的解析度取決於微小光點的大小,最大掃描範圍為90微米,位置精度為±0.01納米。當使用Φ50微米前置光闌時,本顯微鏡的解析度經測定為1.2微米。首先將光聚焦成微小光點,然後掃描樣品,每一掃描點作為一像元,一組掃描點的...