掃描電子顯微電鏡

掃描電子顯微電鏡是一種用於化學學科領域的電子光學儀器，於2016年3月15日啟用。

基本介紹

• 中文名：掃描電子顯微電鏡
• 外文名：Scanning Electron Microscope
• 學科領域：化學
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡

技術指標

解析度：二次電子（SE）像 15 kV時優於1.0 nm；1 kV時優於1.4 nm（非減速模式） 背散射（BSE）像： 1 kV時優於3.5 nm；15 kV時優於2.0 nm 放大倍率範圍：1 ～ 1,000,000倍。

主要功能

材料的微觀組織觀察、夾雜物形態及定性分析、斷口形貌觀察以及微區成分分析等。