電子顯微鏡系統是一種用於生物學、農學、食品科學技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2005年12月12日啟用。
基本介紹
- 中文名:電子顯微鏡系統
- 產地:日本
- 學科領域:生物學、農學、食品科學技術、環境科學技術及資源科學技術
- 啟用日期:2005年12月12日
- 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器
電子顯微鏡系統是一種用於生物學、農學、食品科學技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2005年12月12日啟用。
電子顯微鏡系統是一種用於生物學、農學、食品科學技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2005年12月12日啟用。技術指標1.透射電鏡技術指標: 解析度:0.2nm (晶格像) 加速電壓:40kV ~ 120k...
光學透鏡的焦點是固定的,而電子透鏡的焦點可以被調節,因此電子顯微鏡不像光學顯微鏡那樣有可以移動的透鏡系統。現代電子顯微鏡大多採用電磁透鏡,由很穩定的直流勵磁電流通過帶極靴的線圈產生的強磁場使電子聚焦。電子源是一個釋放自由電子的...
透射電子顯微鏡 (transmission electron micro-scopy,簡寫為TEM)。構造原理 電子顯微鏡的構造原理與光學顯微鏡相似,主要由照明系統和成像系統構成(圖1)。照明系統包括電子槍和聚光鏡。鎢絲在真空中加熱並在電場的作用下發射出電子流,經...
高分辨透射電子顯微鏡系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2015年11月10日啟用。技術指標 1.Point Resolution: 0.23nm 點解析度:0.23nm 2. Lattice Resolution: 0.102nm 晶格解析度:0.102nm 3. Lattice Resolution on STEM...
場發射掃描電子顯微鏡系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2013年9月13日啟用。技術指標 二次電子解析度 1.0nm (加速電壓15kV、WD=4mm) 1.3nm (加速電壓1kV、WD=1.5mm) 加速電壓 0.1~30kV 觀測倍率 20~8000,000(...
掃描電子顯微鏡系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2015年10月26日啟用。技術指標 解析度:3.0nm@30KV(SE and W),4.0nm@30KV(VP with BSD)。主要功能 觀察掃描各種金屬材料及產品的顯微形貌,可進行失效分析,能譜...
場發射電子顯微鏡系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2015年12月24日啟用。技術指標 200KV場發射透射電子顯微鏡,配備聚光鏡球差校正系統,能譜分析,STEM功能等。主要功能 解析度達原子水平的形貌分析;結合EDS,可做元素的線掃、面...
掃描電子顯微鏡是一種大型分析儀器,它廣泛套用於觀察各種固態物質的表面超微結構的形態和組成。所謂掃描是指在圖象上從左到右、從上到下依次對圖象象元掃掠的工作過程。它與電視一樣是由控制電子束偏轉的電子系統來完成的,只是在結構和...
掃描式電子顯微鏡系統 掃描式電子顯微鏡系統是一種用於物理學、化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2011年3月10日啟用。技術指標 放大倍數30-300000,解析度3nm。主要功能 對材料進行微觀形貌分析。
原子分辨透射電子顯微鏡系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2017年12月21日啟用。技術指標 STEM HAADF解析度:63pm(300kv),105pm(200kv),105pm(160kv),136pm(80kv),192pm(60kv),314pm(40kv). TEM...
高分辨場發射掃描電子顯微鏡系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年12月21日啟用。技術指標 二次電子解析度≤0.6nm(15kV);二次電子解析度≤0.9nm(1kV)。主要功能 圖像解析度高放大倍率大、對樣品沒有損傷、試樣製備簡單、...
台式掃描電子顯微鏡結合光學顯微鏡與傳統掃描電鏡的優點。既保留的掃描電鏡較高的放大倍數和大景深,同時體積小、操作簡便,價格僅為傳統電鏡的幾分之一,逼近高端光學顯微鏡。台式掃描電子顯微鏡操作方便、維護簡單等特點被認可。組成 真空系...
掃描電子顯微鏡測試系統 掃描電子顯微鏡測試系統是一種用於生物學學科領域的儀器,於2012年3月1日啟用。技術指標 二次電子像解析度:0.8nm @ 15kV;放大倍率:12~1 000 000倍。服務內容 表面形貌分析;微區成分分析。
場發射環境掃描電子顯微鏡系統是一種用於化學、基礎醫學、材料科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2007年12月28日啟用。技術指標 解析度高真空30KV優於2.0nm/低真空時30KV優於3.5nm;環境真空:30KV優於2.0nm;對樣品...
場發射透射電子顯微鏡系統是一種用於物理學、化學、材料科學、電子與通信技術領域的分析儀器,於2007年5月4日啟用。技術指標 TEM形貌像,HRTEM晶格像;選區電子衍射花樣SED,STEM(HAADF)掃描透射像,微區成分分析(點、線、面) 點...
克魯和他的同事發明了冷場電子發射源,同時建造了一台能夠對很薄的碳襯底之上的重原子進行觀察的掃描透射電子顯微鏡。背景知識 電子 理論上,光學顯微鏡所能達到的最大解析度,d,受到照射在樣品上的光子波長λ以及光學系統的數值孔徑,NA...
透射電子顯微鏡電學測量系統是一種用於化學工程領域的科學儀器,於2016年6月19日啟用。技術指標 電流測量量程範圍: 1nA -20mA,電流解析度:10fA。電壓輸出範圍:± 10V 、150V 。自動進行電流-電壓(I-V)測量、電流-時間(I-t)...
透射式電子顯微鏡及圖像採集系統是一種用於物理學、化學、生物學、材料科學領域的分析儀器,於2010年11月25日啟用。技術指標 在加速電壓100KV時,用底插相機實現0.2納米晶格解析度。實際使用側插相機時,可觀察到1納米大小顆粒物。主要...
微納操縱及原位光電分析掃描電子顯微鏡系統是一種用於材料科學、機械工程領域的分析儀器,於2015年11月25日啟用。技術指標 高真空模式:30kV時優於1.0nm(SE),1kV時優於3.0nm(SE),30kV時優於2.5nm(BSE);;低真空模式:...
透射電子顯微鏡和樣品製備系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年6月11日啟用。技術指標 (1)FEI Tecnai Femto G2 20超快透射電鏡主機,熱電子模式thermionic emission,CTEM點解析度≤0.27nm,CTEM線解析度≤0.14nm,STEM線...
透射式電子顯微鏡 透射式電子顯微鏡是一種用於物理學、生物學、材料科學領域的分析儀器,於2006年12月15日啟用。技術指標 點解析度:0.23納米;放大倍數:2,000~1,500,000;加速電壓:最大200KV。主要功能 透射式電子顯微鏡。
光電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2011年5月24日啟用。技術指標 Focus PEEM的電子光學系統包括三級靜電透鏡系統,結合精心設計的消像散器/偏轉模組,使得Focus PEEM具有極高的空間解析度。 1.符合VT-SPM UHV系統工作條件...
(STEM) Super-X EDS能譜儀系統的能量解析度:136 eV。主要功能 該儀器具有衍襯成像、高分辨成像、Z襯度成像、電子衍射、能譜分析和三維重構等多種功能,屬於分析型透射電子顯微鏡,可實現材料微觀組織形貌、晶體結構和微區成分分析。
也可實現由離子束誘導的金屬和絕緣體氣相沉積。另外,通過加入環境掃描附屬檔案,可以實現環境掃描觀測功能,通過加裝掃描透射附屬檔案,可以實現掃描透射功能。擬購置的電子束聚焦離子束雙束系統為在納米尺度下製造和加工提供極大的便利。
場發射掃描電子顯微鏡分析系統成分探測系統是一種用於化學領域的科學儀器,於2017年9月26日啟用。技術指標 解析度:二次電子(SE)像,高真空模式:15kV時≤1.0 nm;1kV時≤1.4 nm。主要功能 用於材料表面微觀形貌觀察。
雙束電子顯微鏡是一種用於物理學領域的科學儀器,於2013年5月13日啟用。技術指標 器件最小製備線寬可達到20 nm。主要功能 versa 3D是集成聚焦離子束和聚焦Ga離子束的雙束系統,器件最小的製備線寬可以達到20nm。可以沉積Pt,C兩種材料...
以ULTRAPLUS掃描電子顯微鏡為例,環境條件要求如下:溫度保持在21~25℃,相對濕度小於65%,磁場強度小於3×10T,噪聲強度小於65dB,獨立地線的接地電阻小於0.1Ω。檢查光學系統 電子光學系統是由電子槍、電磁透鏡、掃描線圈組成的,也是...
◎ 高速電子束系統減少樣品鏡筒污染。◎ 大液氮冷阱減少樣品污染。◎ 側面插入樣的載物台適合高解析度工作 結合高解析度的顯微技術和操作的設計 ◎ 不用改變物鏡孔即可切換解析度模式和EDX工作模式。◎ 可以在所有操作方式(SE,BSE和STEM...