場發射透射電子顯微鏡系統

場發射透射電子顯微鏡系統是一種用於物理學、化學、材料科學、電子與通信技術領域的分析儀器，於2007年5月4日啟用。

基本介紹

• 中文名：場發射透射電子顯微鏡系統
• 產地：捷克
• 學科領域：物理學、化學、材料科學、電子與通信技術
• 啟用日期：2007年5月4日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 透射電鏡

技術指標

TEM形貌像，HRTEM晶格像；選區電子衍射花樣SED，STEM（HAADF）掃描透射像，微區成分分析（點、線、面） 點解析度：0.248nm；線解析度：0.102nm；加速電壓 ：200KV 能譜儀：能量解析度136ev； STEM掃描透射模式晶格解析度：0.2nm。

主要功能

金屬薄膜、陶瓷粉末、納米材料等微觀結構及成分分析。