場發射環境掃描電子顯微鏡系統

場發射環境掃描電子顯微鏡系統

場發射環境掃描電子顯微鏡系統是一種用於化學、基礎醫學、材料科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2007年12月28日啟用。

基本介紹

  • 中文名:場發射環境掃描電子顯微鏡系統
  • 產地:荷蘭
  • 學科領域:化學、基礎醫學、材料科學、環境科學技術及資源科學技術
  • 啟用日期:2007年12月28日
  • 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡
技術指標,主要功能,

技術指標

解析度高真空30KV優於2.0nm/低真空時30KV優於3.5nm;環境真空:30KV優於2.0nm;對樣品移動範圍X=Y=500mm。

主要功能

微觀形貌觀測以及微區分析。

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