ZEISS熱場發射掃描電子顯微鏡

ZEISS熱場發射掃描電子顯微鏡是一種用於物理學、化學、能源科學技術領域的分析儀器，於2016年1月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：ZEISS熱場發射掃描電子顯微鏡
• 產地：德國
• 學科領域：物理學、化學、能源科學技術
• 啟用日期：2016年1月1日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡

技術指標

放大倍率：範圍:12×～1000,000×；工作距離：範圍可由1mm至50mm。

主要功能

觀察材料表面微觀形貌。