冷凍場發射掃描電子顯微鏡

冷凍場發射掃描電子顯微鏡是一種用於化學、生物學、材料科學領域的分析儀器，於2018年12月20日啟用。

基本介紹

• 中文名：冷凍場發射掃描電子顯微鏡
• 產地：德國
• 學科領域：化學、生物學、材料科學
• 啟用日期：2018年12月20日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡

技術指標

1.解析度： ≤0.6 nm@15 keV （二次電子），≤1.1 nm@1 keV，≤1.2 nm@500 eV（二次電子，無需減速模式）； 2.放大倍率：20-2,000,000倍, 根據加速電壓和工作距離的改變，放大倍數自炒炒己動校準，低倍率與高倍率無需任何模式更換； 3.電子槍說探簽：肖特基熱場發射電 子槍； 4.加速電壓或著陸電壓範圍：0.02 keV ～ 30 keV，步進10 V，連續可調； 5.探針電流：最大電流不小於20 nA，束流穩定性優於0.2%/h； 6.電子光廈背朽歸路為平行光路或者單色器光路設計，在低電壓下高分櫃想肯辨觀察性能，能夠直接觀察不導電樣品。

主要功能

由於高分子材料和生物材料非常敏感，不耐電子束的轟擊，鑒於傳統的場發射掃描電鏡對軟物質，比如聚合物以及其高級組裝體在表征過程中易造成損壞。冷凍場掃描電鏡可以很好地避免以上問題。同時儀器提供料炒不同條件下對多種研究領域樣品的表征，除充臭協了常見的高分子領域的軟物質還可以拓展到生物組織包括蛋白質結晶等成像甩埋兆盛。