場發射掃描電子顯微鏡分析系統成分探測系統

場發射掃描電子顯微鏡分析系統成分探測系統是一種用於化學領域的科學儀器，於2017年9月26日啟用。

基本介紹

• 中文名：場發射掃描電子顯微鏡分析系統成分探測系統
• 產地：德國
• 學科領域：化學
• 啟用日期：2017年9月26日

技術指標

解析度：二次電子（SE）像，高真空模式：15kV時≤1.0 nm；1kV時≤1.4 nm。

主要功能

用於材料表面微觀形貌觀察。