高分辨場發射透射電子顯微分析系統

高分辨場發射透射電子顯微分析系統是一種用於物理學、化學領域的分析儀器，於2012年5月20日啟用。

基本介紹

• 中文名：高分辨場發射透射電子顯微分析系統
• 產地：荷蘭
• 學科領域：物理學、化學
• 啟用日期：2012年5月20日
• 所屬類別：分析儀器

技術指標

點解析度：0.205 nm ， 線解析度：0.102 nm 加速電壓：300 kV放大倍數：2000 X ~ 1,000,000 X。

主要功能

TEM形貌觀察（Transmission Electronic Microscope）普通透射形貌觀察，高分辨透射形貌觀察（HRTEM，High Resolution-Transmission Electronic Microscope ，用於研究小於10 nm的顆粒形態、結構特徵，拍攝晶格像）選區電子衍射晶體結構分析，SAED （Selected Area Electronic Diffraction）模式的單晶衍射、多晶衍射，電子探針元素分析，X射線能譜EDX（Energy Dispersion X-ray Spectrum），掃描透射模式（STEM）形貌觀察。