高分辨場發射透射電子顯微鏡是一種用於化學、材料科學、生物學領域的分析儀器，於2012年11月2日啟用。
高分辨場發射透射電子顯微鏡是一種用於化學、材料科學、生物學領域的分析儀器，於2012年11月2日啟用。技術指標場發射電子槍，加速電壓：20-200kV連續調節，放大倍數：25-1,000,000，點解析度：0.24nm；...
場發射超高分辨透射電子顯微鏡是一種用於生物學、化學、物理學、農學領域的分析儀器，於2017年6月21日啟用。技術指標 加速電壓200 kV；TEM晶格解析度~0.1 nm；STEM解析度~0.16 nm；SEI解析度~0.5 nm；放大倍率：TEM：500x~2Mx；STEMSEI：100x~150Mx。主要功能 STEM明場及HADDF暗場像；雙EDX高通量能譜探測；...
高分辨透射電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2012年11月20日啟用。技術指標 點解析度：0.19nm； 線解析度：0.14nm； TEM解析度：0.20nm；放大倍率: 2000-1,500,000 X ；加速電壓：200kV ； 傾斜角：±25°；能譜儀：4Be ~ 92U。主要功能 1.高亮度場發射電子槍； 2.束斑尺寸小於0.5nm；...
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope，簡稱TEM)，可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小於0.2um的細微結構，這些結構稱為亞顯微結構或超微結構。要想看清這些結構，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。1932年Ruska發明了以電子束為光源的透射電子顯微鏡，電子束的波長要比可見光和紫外光短得多，...
高分辨場發射透射電子顯微分析系統是一種用於物理學、化學領域的分析儀器，於2012年5月20日啟用。技術指標 點解析度：0.205 nm ， 線解析度：0.102 nm 加速電壓：300 kV放大倍數：2000 X ~ 1,000,000 X。主要功能 TEM形貌觀察（Transmission Electronic Microscope）普通透射形貌觀察，高分辨透射形貌觀察（HRTEM，...
場發射高分辨電子顯微鏡 場發射高分辨電子顯微鏡是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2005年8月6日啟用。技術指標 性能指標：點解析度0.19 nm，線解析度0.14 nm，EELS能量譜解析度0.7 eV，EDS能量解析度136 eV。主要功能 固體材料結構和成分分析。
場發射分析型透射電子顯微鏡是一種用於材料科學、化學、地球科學、臨床醫學領域的分析儀器，於2013年12月13日啟用。技術指標 點解析度：0.19 nm； 晶格解析度：0.10 nm； 掃描透射晶格解析度：0.2 nm ；能譜能量解析度：136 eV。主要功能 TEM像、高分辨像、STEM像、選區電子衍射、HAADF像、暗場像、微區元素成分...
熱場發射透射電子顯微鏡是一種用於生物學、材料科學、化學工程領域的分析儀器，於2009年12月20日啟用。技術指標 加速電壓：200kv；電子槍：場發射；信息分辨率：＜0.14nm ；點解析度:＜0.24nm；STEM解析度＜0.3nm；EELS解析度：＜0.7ev；配有EELS、STEM探頭、EDS探頭。主要功能 對材料內部微觀結構，組織成分，...
高分辨場發射掃描電子顯微鏡系統 高分辨場發射掃描電子顯微鏡系統是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2018年12月21日啟用。技術指標 二次電子分辨率≤0.6nm(15kV);二次電子解析度≤0.9nm（1kV）。主要功能 圖像解析度高放大倍率大、對樣品沒有損傷、試樣製備簡單、景深大。
高分辨場發射掃描電子顯微分析系統是一種用於物理學、化學領域的分析儀器，於2015年9月24日啟用。技術指標 解析度： 二次電子（SE）像,高真空模式：15 kV時1.0 nm,1 k V時優於1.4 nm(非減速模式),低真空模式：30 kV時1.8nm；放大倍率：範圍35 ～ 1，000,000倍；著陸電壓：50V ～ 30 kV；電子槍：...
高分辨熱場發射掃描電子顯微鏡 高分辨熱場發射掃描電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2015年9月11日啟用。技術指標 15kV解析度0.6nm，1kV解析度1.6nm。主要功能 測試樣品表面形貌及微區成分。
高分辨冷場發射掃描電子顯微鏡是一種用於藥學領域的分析儀器，於2013年11月27日啟用。技術指標 解析度 、放大倍數 、加速電壓、傾斜角。主要功能 具備超高分辨掃描圖像觀察能力，尤其是採用最新數位化圖像處理技術，提供高倍數、高分辨掃描圖像，並能即時列印或存檔輸出，是納米材料粒徑測試和形貌觀察最有效儀器。
高分辨分析型場發射掃描電鏡 高分辨分析型場發射掃描電鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2018年7月12日啟用。技術指標 加速電壓80，100，120，160，200 kV 點解析度：0.194 nm 線解析度：0.14 nm 放大倍數：1,500,000倍。主要功能 微觀組織分析。
所申購的“高點分辨、高空間分辨、高能量分辨透射電子顯微鏡”產權屬國家所有，委託設立於清華大學的“北京電子顯微鏡中心”進行管理，執行資源共享任務。所申購的“高點分辨、高空間分辨、高能量分辨透射電子顯微鏡”及各單位原有共享設備的管理均採取主管教授和責任工程師負責制。人才培養 建設的北京電子顯微鏡中心是開放型...
高分辨率顯微鏡 高解析度顯微鏡是一種用於基礎醫學、化學、生物學領域的分析儀器，於2015年12月11日啟用。技術指標 可用於活細胞實驗，含螢光、透射光路，60x物鏡。主要功能 高分辨態分析。
高分辨場發射電子探針 高分辨場發射電子探針是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2015年7月13日啟用。技術指標 1. 加速電壓範圍為5~30 kV；2. 分析F~U間的元素；3. 主量元素測試誤差小於1.5%。主要功能 該儀器不僅能對礦物進行背散射電子圖像和二次電子圖像觀察，還能對礦物成分進行高精度的點、線和面分析。
皖西學院分析測試中心成立於2015年，是該校集教學、科研、對外服務於一體的開放型、綜合性大型精密儀器公共服務平台。中心位於教學樓D樓東部1-5樓，現有實驗面積1600m2；擁有場發射掃描電子顯微鏡、高分辨透射電子顯微鏡、電感耦合電漿質譜儀、傅立葉紅外光譜儀、螢光光譜儀、X射線粉末衍射儀、氣相色譜儀、超高效液相...
安徽大學現代實驗技術中心創建於1987年，是利用世界銀行貸款建成的高校分析測試中心之一。目前，中心擁有200KV高分辨透射電子顯微鏡、高分辨分析型冷場發射式掃描電鏡、元素分析儀、傅立葉變換紅外光譜儀、400兆赫超導傅立葉變換核磁共振波譜儀、轉靶多晶體X射線衍射儀、色質聯用儀、電漿發射光譜儀等20多台大型精密...
天津理工大學新能源材料與低碳技術研究院已建成“材料微結構”教育部國際合作聯合實驗室、“新能源材料”學科創新引智基地、天津市先進多孔功能材料重點實驗室、天津理工大學電子顯微鏡中心、天津理工大學-FEI聯合實驗室、公共測試平台等多個科研平台，擁有球差校正透射電子顯微鏡、高分辨場發射透射電子顯微鏡、超高分辨場發射...
中心配有場發射高分辨透射電子顯微鏡、分析型掃描電子顯微鏡、轉靶X射線衍射儀、多功能光電子能譜儀、X射線螢光光譜儀、紅外光譜儀、拉曼光譜儀、電漿發射光譜儀、綜合熱分析儀、電液伺服材料試驗機等各類大型精密儀器31台，同時配有各種物性測試儀器，總價值按不同時期的美元匯率換算，共3000多萬元人民幣。中心...
擁有大型精密儀器設備，主要面向物理、化學化工、材料、納米、環境、電子、能源等眾多學科，能夠從事材料微觀結構分析、定性和定量分析、材料性能測定、材料質量綜合評定等工作。檢測分析中心包括JEM2100F高分辨場發射透射電子顯微鏡、JEM2100六硼化鑭透射電子顯微鏡、JSM7600F場發射掃描電子顯微鏡、JSM6460掃描電子顯微鏡、...
材料結構、性能分析與製備的儀器設備有透射電子顯微鏡、高分辨場發射掃描電子顯微鏡、原子力顯微鏡、XRD、全自動比表面積儀、同步熱分析儀、多參數電池檢測設備、分子束外延（MBE）、磁控濺射儀、等離子噴塗設備、納米磨、萬能材料試驗機等，以及各類材料光、電、磁、力學性能測試儀器和各類高溫熱壓爐、氣流磨等；化學測試...
公司將聚焦全球頂尖的電子顯微類相關產品研發與製造，致力於為科研和工業客戶提供多模態、跨尺度的綜合顯微成像解決方案，公司產品線將覆蓋全品類電子顯微鏡包括高分辨場發射掃描電鏡、高通量（場發射）掃描電鏡、透射電鏡、聚焦離子束、電子束曝光機、半導體電子束檢測等。納克微束參與中國生物醫學成像領域的大科學工程——...
主要設備有：“Ω型能量過濾場發射槍超高分辨透射電子顯微鏡”（JEM-2010FEF），解析度為0.19 nm。該電鏡是日本電子公司（JEOL）研製的面向21世紀的最新產品。另一台為大傾轉角的LaB6型透射電子顯微鏡（JEM-2010），解析度為0.23 nm。同時購買了美國GATAN公司的電鏡制樣設備和相關的輔助設備。聲光材料與器件實驗室...
中心現有High-Multi 10000 多功能燒結爐、JEM 2100F 高分辨透射電子顯微鏡、JSM 7500F 場發射掃描電子顯微鏡、Dimension ICON型掃描探針顯微鏡、AVANCE 400MHz 核磁共振波譜儀、FLS920 螢光光譜儀、Bruke傅利葉變換紅外/拉曼光譜儀、VARIN原子吸收光譜儀、Agilent 7890A-5975C氣質連用儀、VARIN氣相色譜儀、Agilent 1200...
實驗室建有完備的形貌觀察、結構鑑定、熱分析、光譜、色譜等專門儀器設備室，擁有高分辨透射電子顯微鏡(HRTEM)、熱場場發射掃描電子顯微鏡(FESEM)、X-射線單晶衍射儀、原子力顯微鏡(AFM)、掃描電子顯微鏡(SEM)、X射線衍射儀以及電感耦合電漿質譜儀等一批先進儀器設備。實驗室目前在套用化學、材料學、材料物理與化學...
掃描透射電子顯微鏡(簡稱掃描透射電鏡，STEM)則兼有兩者的性能。為了進一步表征儀器的特點，有以加速電壓區分的，如：超高壓(1MV)和中等電壓(200—500kV)透射電鏡、低電壓(～1kV)掃描電鏡；有以電子槍類型區分的，如場發射槍電鏡；有以用途區分的，如高分辨電鏡，分析電鏡、能量選擇電鏡、生物電鏡、環境電鏡、原位...
實驗室擁有約3000平米的實驗空間，設備較為先進和齊全，擁有2台超導核磁共振波譜儀(400 MHZ和600 MHZ)、高分辨透射電子顯微鏡、場發射掃描電子顯微鏡、高分辨質譜儀、X-射線單晶衍射儀、X-射線粉末衍射儀、原子力顯微鏡、氣相色譜質譜聯用儀、元素分析儀、紅外光譜儀、數位化掃描電子顯微鏡、高速自動比表面與孔隙度分析...
實驗室建有完備的形貌觀察、結構鑑定、熱分析、光譜、色譜等專門儀器設備室，擁有高分辨透射電子顯微鏡(HRTEM)、熱場場發射掃描電子顯微鏡(FESEM)、X-射線單晶衍射儀、原子力顯微鏡(AFM)、掃描電子顯微鏡(SEM)、X射線衍射儀以及電感耦合電漿質譜儀等一批先進儀器設備。實驗室在套用化學、材料學、材料物理與化學、...
在半導體分析測試方面，擁有Bede D1光衍射儀器、SSM—350擴展電阻儀，傅立葉紅外光譜儀、CM200型超高分辨透射電子顯微鏡、Hitachi S4800場發射掃描電鏡、Edinburgh FLS920 螢光光譜測量系統和HL5500半導體材料霍爾參數測試儀等大型測試設備。研究特色 實驗室主要從事矽單晶材料及半導體材料的基礎科學與套用基礎研究，己形成...
