高分辨透射電子顯微鏡系統

高分辨透射電子顯微鏡系統

高分辨透射電子顯微鏡系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2015年11月10日啟用。

基本介紹

  • 中文名:高分辨透射電子顯微鏡系統
  • 產地:日本
  • 學科領域:材料科學
  • 啟用日期:2015年11月10日
  • 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器 > 透射電鏡
技術指標,主要功能,

技術指標

1.Point Resolution: 0.23nm 點解析度:0.23nm 2. Lattice Resolution: 0.102nm 晶格解析度:0.102nm 3. Lattice Resolution on STEM image: 0.20nm 掃描透射附屬檔案解析度:0.20nm 4. Minimum Spot Size: 0.5nm 束斑尺寸:0.5nm 5. Accuracy of Magnification: ± 10% 放大倍數誤差: ± 10% 6. Vacuum: Less than 2?10-5 Pa 真空度:優於2×10-5 Pa 7. Specimen Tilt Angle 樣品傾斜角 X: 35? (Shift X=0, Y=0, Z=0) X軸:±35° (Shift X=0, Y=0, Z=0) Y: ?30? (Shi)。

主要功能

高分辨成像,電子衍射,STEM BF HAADF成像,EDX元素分析。

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