原位多功能透射電子顯微鏡

原位多功能透射電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2016年12月30日啟用。

基本介紹

• 中文名：原位多功能透射電子顯微鏡
• 產地：捷克
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2016年12月30日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器

技術指標

加速電壓：200 kV TEM點解析度：0.25 nm， 線解析度：0.14 nm，信息解析度：0.12 nm STEM解析度：0.16 nm 放大倍數：25~1500000 (TEM), 150~2300000 (STEM) Super-X EDS能譜儀系統的能量解析度：136 eV。

主要功能

該儀器具有衍襯成像、高分辨成像、Z襯度成像、電子衍射、能譜分析和三維重構等多種功能，屬於分析型透射電子顯微鏡，可實現材料微觀組織形貌、晶體結構和微區成分分析。