雙束電子顯微鏡是一種用於物理學領域的科學儀器,於2013年5月13日啟用。
基本介紹
- 中文名:雙束電子顯微鏡
- 產地:荷蘭
- 學科領域:物理學
- 啟用日期:2013年5月13日
雙束電子顯微鏡是一種用於物理學領域的科學儀器,於2013年5月13日啟用。
雙束電子顯微鏡是一種用於物理學領域的科學儀器,於2013年5月13日啟用。技術指標器件最小製備線寬可達到20 nm。1主要功能versa 3D是集成聚焦離子束和聚焦Ga離子束的雙束系統,器件最小的製備線寬可以達到20nm...
電子束聚焦離子束雙束電子顯微鏡是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2015年4月30日啟用。技術指標 (1)電子束解析度 1、高真空:1nm 30kV (二次電子); 2.5 nm 30kV (背散射電子);1.5 nm 15kV (二次電子); 2.9...
Helios Nanolab G3 UC 是目前世界上非常先進的用於細胞、組織等生物樣品成像的掃描雙束電子顯微鏡:(1)具有Dual Beam—場發射掃描電子雙束(SEM)和聚焦離子束(Focused Ion Beam, FIB):藉助Dual Beam,FEI AutoSlicerViewer軟體可...
電離雙束電子顯微鏡 電離雙束電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年3月12日啟用。技術指標 掃描電子探測器解析度小於5nm,放大倍數最大100萬倍,離子束解析度小於5nm。主要功能 微納表征與加工。
自成立,一直延續不斷創新的傳統,公司擁有廣泛的專有技術,隨著離子束技術和基於電子束的分析技術的加入、可為您提供鎢燈絲掃描電鏡、場發射掃描電鏡、雙束顯微鏡(FIB and SEM)、透射電子顯微鏡等全系列解決方案。其產品的高性能、高...
公司將聚焦全球頂尖的電子顯微類相關產品研發與製造,致力於為科研和工業客戶提供多模態、跨尺度的綜合顯微成像解決方案,公司產品線將覆蓋全品類電子顯微鏡包括高分辨場發射掃描電鏡、高通量(場發射)掃描電鏡、透射電鏡、聚焦離子束、電子...
2.1.4 電子束斑 2.2 電子束與物質的相互作用 2.2.1 散 2.2.2 主要成像信號 2.3 掃描電鏡的結構與工作原理 2.3.1 電鏡的工作原理 2.3.2 掃描電鏡的結構 2.3.3 圖像襯度和成因 2.4 圖像質量及主要影響...
Zeiss Ultra Plus場發射掃描電子顯微鏡 Bruker ICON原子力顯微鏡 Agilent BA1500半導體參數測試儀與MM探針台 氧化擴散區 氧化擴散設備 SVCS臥式低壓化學氣相沉積爐管 SVCS臥式氧化擴散爐管 測試設備 CDResMap四探針電阻率/方塊電阻測試儀 ...
在新型的聚焦離子束顯微鏡,已出現的雙束(Dual Beam)的機型(離子束+電子束),在以離子束切割時,用電子束觀察影像,除了可避免離子束繼續 "破壞現場" 外,尚可有效的提高影像解析度,同時也可配備X-光能譜分析儀或二次離子質譜儀...
FEG-SEM/FIB採用高強度聚焦離子束(FIB)對材料進行納米尺度地加工,結合掃描電子顯微鏡(SEM)實時觀察,開闢了從大塊材料製造納米器件、進行納米加工的新途徑。目前已廣泛套用於半導體積體電路生產線;直接修補、加工積體電路;微納米加工、...
《雷射與光電子學進展》《雷射與光電子學進展》是由中國科學院上海光學精密機械研究所主辦、國家高技術慣性約束聚變委員會與福建師範大學雷射與光電子技術研究所協辦,《中國雷射》雜誌社出版、郵局公開發行的科技類學術月刊,創刊於1964年,...
FEI 的雙束 (DualBeam) 儀器結合了聚焦離子束工具的銑蝕功能和掃描電子顯微鏡的成像能力與分辨力。 這些尖端儀器是三維顯微學和材料表征分析、工業故障分析以及工藝控制套用的首選解決方案。 這些儀器旨在為高產量半導體與數據存儲製造行業...
衍射襯度是電子束透過晶體由衍射效應引起的顯微象襯度,在電子顯微鏡中利用衍射。在這種雙束條件下獲得的明場象和暗場象襯度相反並且互補,襯度的計算也很簡單,在材料研究中獲得廣泛的套用。可以調整晶體的位向獲得一系列衍射,取其中的...
2008年起一直從事透射電子顯微學相關的研究,主要研究方向為:運用高分辨透射電子顯微鏡 (HRTEM) 和球差矯正掃描透射電子顯微鏡 (Aberration-corrected STEM) 對材料的析出相、界面相進行原子尺度表征,材料強度和材料熱穩定性。以第一作者或...
《Nanoscale》旨在發表納米科學和納米技術範圍內理論性和實驗性的著作,包含各類研究文章,如通訊、綜述和全文文章,融合了納米各個學科的Nanoscale涵蓋了醫學、材料、能源/環境、信息技術、檢測科學、衛生保健、藥物發現和電子學等多個領域。...
建設至今,在高水平研究期刊上累計刊出超過240篇論文;已獲得一批包括省重大研發計畫在內的國家及省部級科研項目,總立項金額近2億;已申報專利近百項;已購置包括雙球差場發射透射電子顯微鏡、場發射透射電子顯微鏡、SEM-FIB雙束電鏡、...
國際電介質中心先進電子顯微鏡平台正式啟用 2012年10月19日至21日,先進電子顯微學及材料研究國際學術研討會在西安交大召開,來自德國於利希研究中心、美國密西根州立大學、德國亞琛工業大學、加拿大麥克瑪斯特大學、日本東京大學、清華大學、...