掃描式電子顯微鏡系統

掃描式電子顯微鏡系統是一種用於物理學、化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器，於2011年3月10日啟用。

基本介紹

• 中文名：掃描式電子顯微鏡系統
• 產地：日本
• 學科領域：物理學、化學、材料科學、化學工程
• 啟用日期：2011年3月10日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡

技術指標

放大倍數30-300000，解析度3nm。

主要功能

對材料進行微觀形貌分析。