分析型掃描電子顯微鏡是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器,於2012年09月10日啟用。
基本介紹
- 中文名:分析型掃描電子顯微鏡
- 產地:日本
- 學科領域:電子與通信技術
- 啟用日期:2012年09月10日
- 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡
分析型掃描電子顯微鏡是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器,於2012年09月10日啟用。
分析型掃描電子顯微鏡是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器,於2012年09月10日啟用。技術指標放大倍數:5倍~30萬倍。1主要功能觀測樣品的表面、切面、斷面結構。1...
掃描電子顯微鏡(scanning electron microscope,SEM)是一種用於高解析度微區形貌分析的大型精密儀器。具有景深大、解析度高,成像直觀、立體感強、放大倍數範圍寬以及待測樣品可在三維空間內進行旋轉和傾斜等特點。另外具有可測樣品種類豐富,...
分析掃描電子顯微鏡 分析掃描電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2015年9月17日啟用。技術指標 加速電壓:5~30KV;樣品大小:80mm;解析度:5nm。主要功能 用於觀察樣品表層結構。
第一台掃描電子顯微鏡是1938年由德國人M.von阿爾登研製成功的。通常掃描電子顯微鏡附有X射線能譜和波譜分析裝置,可在觀察形貌的同時,快速得出該區域的化學成分。另外,在掃描電子顯微鏡上還可進行電子通道花樣分析,從而可研究試樣微區的...
分析電子顯微鏡是由透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡和電子探針組合而成的多功能的新型儀器。analytical electron microscope;AEM 是由透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡和電子探針組合而成的多功能的新型儀器。其功能有:可獲得透射電子圖像、掃描...
日本JEOL掃描電子顯微鏡是一種用於安全科學技術領域的分析儀器,於2007年11月13日啟用。技術指標 放大倍數5-10萬倍;三級物鏡光欄;高低真空切換;加速電壓0.5→30KV。主要功能 金屬材料,納米材料,微觀形貌分析及微區成份分析。
透射式電子顯微鏡常用於觀察那些用普通顯微鏡所不能分辨的細微物質結構;掃描式電子顯微鏡主要用於觀察固體表面的形貌,也能與X射線衍射儀或電子能譜儀相結合,構成電子微探針,用於物質成分分析;發射式電子顯微鏡用於自發射電子表面的研究。...
掃描電子顯微鏡及能譜儀是一種用於材料科學、機械工程、安全科學技術領域的分析儀器,於2010年12月27日啟用。技術指標 放大倍數:6x–1,000,000x,解析度:30kV下3.0nm(SE),30kV下4.0nm(BSE),3kV下8.0nm(SE)。主要功能 微觀...
桌面電子掃描顯微鏡是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器,於2016年11月24日啟用。技術指標 ①電子槍:場發射電子源 ②加速電壓:0.5 to 2 kV ③束流:0.2 to 1 nA ④解析度:<10 nm (@1kV) ⑤放大倍數:250 ...
掃描電子顯微鏡-能譜儀是一種用於物理學、化學、生物學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2009年8月31日啟用。技術指標 二次電子像解析度:1.0nm(15kv);1.4nm(1kv,減速模式);2.0nm (1kV)普通模式;加速電壓:0.5 ~ 30kV;...
桌面掃描電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年7月4日啟用。技術指標 (1)、電子槍:六硼化鑭燈絲,燈絲壽命≥1000小時;(2)、放大倍數:30-100000倍;可數位放大:2倍、4倍;(3)、電子束電流:30pA-1nA,...
掃描式電子顯微鏡-X射線能譜儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2010年3月17日啟用。技術指標 硬體:倍率:15~100000,觀察範圍:9(H)×7(V)mm~1.3(H)×1(V)mm,解析度:8nm,觀察兩次電子圖像和反射電子...
雙束掃描電子顯微鏡是一種用於數學領域的分析儀器,於2017年5月1日啟用。技術指標 1. Elstar 電子槍:Schottky 熱量場發射器。3. 配備Pt氣體沉積源。4. 掃描電子顯微成像配備多種探頭,適用於不同的樣品和工作模式:ETD和TLD,ICD,...
由於掃描電鏡具有分辨能力高,景深長,視野大,成像富有立體感,可以直接觀察樣品凹凸不平的表面,例如金屬斷口,催化劑表面,無機非金屬材料的形貌等等。用掃描電鏡還可以進行電子通道花樣分析,從而研究試樣微區的晶體學位向,晶體對稱性,...
掃描電子顯微鏡法(scanning electron microscopy)是2015年公布的計量學名詞。定義 用聚焦的電子束轟擊樣品,以獲取次級電子、背散射電子、透射電子、樣品電流、束感生電流、特徵 X 射線、俄歇電子以及不同能量的光子的信號,採用其成像電子...
高分辨掃描電子顯微鏡是一種用於化學、材料科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2018年11月07日啟用。技術指標 1.低加速電壓成像能力,1kv解析度可達1.3nm 2.不需噴鍍,可以直接觀測不導電樣品 3. 配置Lower、Upper和Top...
台式電子掃描顯微鏡 台式電子掃描顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2013年12月20日啟用。技術指標 放大30000倍。主要功能 材料分析。
小型掃描電子顯微鏡是一種用於化學工程領域的分析儀器,於2018年11月7日啟用。技術指標 1.加速電壓是:0.3~20 kV連續可調; 2.二次電子解析度是:4.0 nm@20 kV,15 nm@1 kV背散射電子解析度優於:5.0 nm@20 kV(低真空):...
1. 利用掃描透射電子顯微鏡可以觀察較厚的試樣和低襯度的試樣。2. 利用掃描透射模式時物鏡的強激勵,可以實現微區衍射。3. 利用後接能量分析器的方法可以分別收集和處理彈性散射和非彈性散射電子。4. 進行高分辨分析、成像及生物大分子...
鎢燈掃描電子顯微鏡是一種用於基礎醫學、臨床醫學、預防醫學與公共衛生學領域的分析儀器,於2010年11月01日啟用。技術指標 1、 台式設計,節約能源:使用時只需連線上電源插頭,不需要冷卻循環水,只需放在桌面操作。 2、 像使用數位相機...
台式掃描顯微鏡是一種用於生物學、農學、林學領域的分析儀器,於2014年12月31日啟用。技術指標 *2.1放大倍率:內置集成彩色光學顯微鏡,電子放大 80-100,000倍 *2.2背散射電子探測器解析度: 優於17nm 2.3加速電壓: 5kV—10kV...
數位化電子掃描顯微鏡是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2013年3月30日啟用。技術指標 解析度4.5nm(烏絲陰極),放大倍數15-250000倍,電子槍:發叉式烏絲陰極。主要功能 觀測固體試樣表面的微觀形貌;組合分析功能有:X射線...
掃描電子顯微鏡分析方法通則 《掃描電子顯微鏡分析方法通則》是2020年12月1日實施的一項行業標準。備案信息 備案號:78236-2020 備案月報: 2020年第11號(總第247號)
高解析度掃描電子顯微鏡是一種用於化學、地球科學、生物學、材料科學領域的分析儀器,於2013年1月8日啟用。技術指標 ① 加速電壓:0.1~30 kV ② 觀測倍率:20~1,200,000 ③ 二次電子解析度:1.0nm(加速電壓15kV),1.3nm(...
攜帶型電子掃描顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2019年7月16日啟用。技術指標 二次電子解析度:≤4.0nm@20kV,15nm@1kV;背散射電子解析度:≤5.0nm@20kV(低真空);放大倍數:6~300000倍;五軸馬達台;X射線能譜儀。