《掃描電子顯微鏡分析方法通則》是2020年12月1日實施的一項行業標準。
基本介紹
- 中文名：掃描電子顯微鏡分析方法通則
- 實施日期：2020-12-01
- 發布日期：2020-09-29
- 標準號：JY/T 0584-2020
- 制修訂：修訂
- 代替標準：JY/T 010-1996
- 中國標準分類號：Y51
- 國際標準分類號：03.180
- 批准發布部門：教育部
- 行業分類：教育
- 標準類別：方法標準
備案信息
備案號：78236-2020
備案月報： 2020年第11號(總第247號)
《掃描電子顯微鏡分析方法通則》是2020年12月1日實施的一項行業標準。
《掃描電子顯微鏡分析方法通則》是2020年12月1日實施的一項行業標準。備案信息備案號：78236-2020備案月報： 2020年第11號(總第247號) ...
通常掃描電子顯微鏡附有X射線能譜和波譜分析裝置，可在觀察形貌的同時，快速得出該區域的化學成分。另外，在掃描電子顯微鏡上還可進行電子通道花樣分析，從而可研究試樣微區的晶體學位向、晶體對稱性、應變程度和位錯密度等問題。在機械工業...
新式的掃描電子顯微鏡的解析度可以達到1nm;放大倍數可以達到30萬倍及以上連續可調;並且景深大, 視野大, 成像立體效果好。此外, 掃描電子顯微鏡和其他分析儀器相結合, 可以做到觀察微觀形貌的同時進行物質微區成分分析。掃描電子顯微鏡在岩土...
掃描探針顯微鏡分析方法通則 《掃描探針顯微鏡分析方法通則》是2020年12月1日實施的一項行業標準。備案信息 備案號：78234-2020 備案月報： 2020年第11號(總第247號)
1. 利用掃描透射電子顯微鏡可以觀察較厚的試樣和低襯度的試樣。2. 利用掃描透射模式時物鏡的強激勵，可以實現微區衍射。3. 利用後接能量分析器的方法可以分別收集和處理彈性散射和非彈性散射電子。4. 進行高分辨分析、成像及生物大分子...
掃描電子顯微鏡法（scanning electron microscopy）是2015年公布的計量學名詞。定義 用聚焦的電子束轟擊樣品，以獲取次級電子、背散射電子、透射電子、樣品電流、束感生電流、特徵 X 射線、俄歇電子以及不同能量的光子的信號，採用其成像電子...
① 電子顯微鏡。一種以高速運動的電子束作為“光源”或激發源，對物體的微觀結構進行放大分析觀測的電子光學儀器，可分為透射電鏡(TEM)、掃描電鏡(SEM)、掃描透射電鏡 （STEM）、反射電鏡（REM）、點投影電鏡(PPEM)及場發射電鏡(FEEM)...
掃描電子顯微鏡 掃描電子顯微鏡的電子束不穿過樣品，僅以電子束儘量聚焦在樣本的一小塊地方，然後一行一行地掃描樣本。入射的電子導致樣本表面被激發出次級電子。顯微鏡觀察的是這些每個點散射出來的電子，放在樣品旁的閃爍晶體接收這些次級電子...
若真空值低於正常狀態需進行必要的檢查和維護保養，如檢查各真空系統部件或進行烘烤操作，具體方法如下：（1）觀察真空裝置的啟動順序及啟動時間。ULTRA PLUS掃描電子顯微鏡真空的啟動順序為機械泵、渦輪分子泵、潘寧規、離子泵。一般換試樣...
電磁透鏡：電場和磁場都可以使電子束髮生偏轉或者聚散。探測器：背散射電子探測器或二次電子探測器。產品特點 放大倍數高（相對於光學顯微鏡）成像速度快 大景深 體積小巧（相對於落地式掃描電子顯微鏡）操作簡便 價格便宜 套用範圍 台式掃描...
008―1996四圓單晶X射線衍射儀測定小分子化合物的晶體及分子結構分析方法通則 009―1996轉靶多晶體X射線衍射方法通則 010―1996分析型掃描電子顯微鏡方法通則 011―1996透射電子顯微鏡方法通則 012―1996金相顯微鏡分析方法通則 013―1996電子...
掃描電子顯微鏡和能譜分析儀是一種用於化學、材料科學、環境科學技術及資源科學技術、安全科學技術領域的分析儀器，於2016年11月7日啟用。技術指標 1. 二次電子解析度:3.0nm（加速電壓=30kV，WD=5mm高真空模式）;7.0nm（加速電壓=3...
雷射共聚焦掃描電子顯微鏡是一種用於生物學領域的分析儀器，於2019年4月17日啟用。技術指標 1.系統具有3個獨立的螢光檢測通道，可以同時採集3個及以上螢光通道和1個透射光通道圖像; 2.採用X、Y軸獨立的雙鏡掃描，掃描解析度：可以在4 ...
分析型掃描電子顯微鏡 分析型掃描電子顯微鏡是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器，於2012年09月10日啟用。技術指標 放大倍數：5倍~30萬倍。主要功能 觀測樣品的表面、切面、斷面結構。
掃描電子顯微鏡及能譜儀是一種用於材料科學、機械工程、安全科學技術領域的分析儀器，於2010年12月27日啟用。技術指標 放大倍數:6x–1,000,000x，解析度：30kV下3.0nm(SE)，30kV下4.0nm(BSE)，3kV下8.0nm(SE)。主要功能 微觀...
分析掃描電子顯微鏡 分析掃描電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2015年9月17日啟用。技術指標 加速電壓：5~30KV；樣品大小：80mm；解析度：5nm。主要功能 用於觀察樣品表層結構。
掃描電子顯微鏡及電子能譜儀是一種用於材料科學、礦山工程技術、冶金工程技術領域的分析儀器，於2015年5月8日啟用。技術指標 掃描電鏡設備主要技術參數：1、解析度：二次電子（SE）像解析度在高真空時：30kV時優於3.0nm，3kV時優於10....
《電子顯微學中的辯證法：掃描電鏡的操作與分析》是一本2022年人民郵電出版社出版的圖書，作者是林中清，李文雄，張希文。 內容簡介 本書以自然辯證法的三大規律為指導思想來論述掃描電鏡的基本原理，通過充分且翔實的實例向讀者介紹掃描...
數位化掃描電子顯微鏡 數位化掃描電子顯微鏡是一種用於材料科學、化學工程領域的分析儀器，於2008年11月13日啟用。技術指標 解析度4.5nm，放大倍數5-250000倍。主要功能 對材料進行顯微形貌觀測，對微區元素進行分析。
JEOL掃描電子顯微鏡是一種用於生物學、物理學、化學、基礎醫學領域的分析儀器，於2019年7月6日啟用。技術指標 電子光學系統 二次電子解析度 3.0nm@30kV;8.0nm@3kV;15nm@1kV(鎢燈絲) 2.0nm@30kV;6.0nm@3kV;9nm@1kV(六硼化...
掃描電子顯微鏡系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2015年10月26日啟用。技術指標 解析度：3.0nm@30KV(SE and W),4.0nm@30KV(VP with BSD)。主要功能 觀察掃描各種金屬材料及產品的顯微形貌，可進行失效分析，能譜...
聚焦離子束掃描電子顯微鏡是一種用於材料科學、化學、物理學、航空、航天科學技術領域的分析儀器，於2013年10月21日啟用。技術指標 SEM 解析度：高真空：3.0nm（30kV）；10nm（3kV） 低真空：4.0nm（30kV） 放大倍數: 5-300,000 ...
JY/T 0582-2020掃描探針顯微鏡分析方法通則 JY/T 0583-2020聚焦離子束系統分析方法通則 JY/T 0584-2020掃描電子顯微鏡分析方法通則 JY/T 0585-2020金相顯微鏡分析方法通則 JY/T 0586-2020雷射掃描共聚焦顯微鏡分析方法通則 JY/T 0587-...
掃描式電子顯微鏡-X射線能譜儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器，於2010年3月17日啟用。技術指標 硬體：倍率：15～100000，觀察範圍：9(H)×7(V)mm～1.3(H)×1(V)mm，解析度：8nm，觀察兩次電子圖像和反射電子...
3.2.6透射電子 3.2.7電漿激發 3.2.8聲子激發 3.3輻照損傷 第4章電子衍射 第5章複雜電子衍射譜 第6章透射顯微術電子像襯度原理 第7章掃描電子顯微鏡 第8章電子探針顯微分析儀和微分析 第9章其他顯微分析方法 實驗 附錄 ...
GB/T 18735—2014 微束分析 分析電鏡（AEM/EDS）納米薄標樣通用規範 GB/T 18873—2008生物薄試樣的透射電子顯微鏡一X射線能譜定量分析通則 GB/T 19619—2004納米材料術語 GB/T 20307—2006 納米級長度的掃描電鏡測量方法通則 GB/T ...
具體包括分析電鏡（AEM/EDS）納米薄標樣通用規範、透射電子顯微鏡選區電子衍射分析方法、非晶納米晶軟磁合金交流磁性能測試方法、納米級長度的掃描電鏡測量方法通則、波譜法定性點分析電子探針顯微分析導則等。