JEOL掃描電子顯微鏡是一種用於生物學、物理學、化學、基礎醫學領域的分析儀器，於2019年7月6日啟用。
基本介紹
- 中文名：JEOL掃描電子顯微鏡
- 產地：日本
- 學科領域：生物學、物理學、化學、基礎醫學
- 啟用日期：2019年7月6日
- 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
電子光學系統 二次電子解析度 3.0nm@30kV;8.0nm@3kV;15nm@1kV(鎢燈絲) 2.0nm@30kV;6.0nm@3kV;9nm@1kV(六硼化鑭) 背散射電子解析度 4.0nm @ 30kV低真空 發射源 預對中，具有自動加熱、自動對中、自動飽和度調整功能，自動偏壓調整 放大倍數 0X~20倍(光鏡，ZeroMag模式) 5×～300,000(底片倍率)或 14×～839,724(顯示器上以358mm×269mm的尺寸規定) 加速電壓範圍（標準模式） 0.3～30KV，10V步長連續可調，無需模式更換 聚光鏡 自動可變焦聚光鏡 光闌 三級可調物鏡光闌 圖像控制 4種圖像控制模式，解析度，景深模式，分析模式，視場模式 工作距離範圍 2～100mm 掃描速度 22種掃描速度，具備快掃功能。 掃描方式 全螢幕、捷徑、選區、定點方式、線掃描、面掃描、線輪廓、掃描旋轉、傾斜校正，具備參數記憶功能 獨立操縱。
主要功能
配備英國Deben/Standard冷凍樣品台，背散射電子探測器，二次電子探測器，低真空二次電子探測器，能譜儀。具有高、低真空工作模式，可對導電樣品、非導電樣品、乾燥和含水樣品進行清晰成像，支持光電聯用。
