JEOL掃描式電子顯微鏡

JEOL掃描式電子顯微鏡是一種用於機械工程領域的分析儀器，於2018年7月13日啟用。

基本介紹

• 中文名：JEOL掃描式電子顯微鏡
• 產地：中國
• 學科領域：機械工程
• 啟用日期：2018年7月13日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

高真空解析度 3.0nm in SEI (二次電子圖像)|JSM-IT300 解析度高真空模式　3.0 nm (30 kV)　8.0nm(3.0 kV) 15.0 nm(1.0 kV) 解析度低真空模式　4.0 nm (30 kV BED) 放大倍率5 ～ 300,000 倍。

主要功能

觀察微觀形貌、進行物質微區成分分析。