日本JEOL掃描電子顯微鏡

日本JEOL掃描電子顯微鏡是一種用於安全科學技術領域的分析儀器，於2007年11月13日啟用。

基本介紹

• 中文名：日本JEOL掃描電子顯微鏡
• 產地：日本
• 學科領域：安全科學技術
• 啟用日期：2007年11月13日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡

技術指標

放大倍數5-10萬倍；三級物鏡光欄；高低真空切換；加速電壓0.5→30KV。

主要功能

金屬材料，納米材料，微觀形貌分析及微區成份分析。