掃描電子顯微鏡及能譜儀

掃描電子顯微鏡及能譜儀是一種用於材料科學、機械工程、安全科學技術領域的分析儀器，於2010年12月27日啟用。

基本介紹

• 中文名：掃描電子顯微鏡及能譜儀
• 產地：美國
• 學科領域：材料科學、機械工程、安全科學技術
• 啟用日期：2010年12月27日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡

技術指標

放大倍數:6x–1,000,000x，解析度：30kV下3.0nm(SE)，30kV下4.0nm(BSE)，3kV下8.0nm(SE)。

主要功能

微觀分析。