掃描電子顯微鏡和X射線能譜聯用儀是一種用於材料科學、安全科學技術領域的分析儀器,於2018年12月6日啟用。
基本介紹
- 中文名:掃描電子顯微鏡和X射線能譜聯用儀
- 產地:日本
- 學科領域:材料科學、安全科學技術
- 啟用日期:2018年12月6日
- 所屬類別:分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
二次電子解析度:3.0nm(加速電壓1kV,WD=3mm,放大倍率80,000x);能譜分析元素範圍:Be4-Am95。
主要功能
套用於火災物證鑑定和科研工作,以及防火阻燃材料研發工作。