《掃描探針顯微鏡分析方法通則》是2020年12月1日實施的一項行業標準。
基本介紹
- 中文名:掃描探針顯微鏡分析方法通則
- 實施日期:2020-12-01
- 發布日期:2020-09-29
- 標準號:JY/T 0582-2020
- 制修訂:制定
- 中國標準分類號:Y51
- 國際標準分類號:03.180
- 批准發布部門:教育部
- 行業分類:教育
- 標準類別:方法標準
《掃描探針顯微鏡分析方法通則》是2020年12月1日實施的一項行業標準。
《掃描探針顯微鏡分析方法通則》是2020年12月1日實施的一項行業標準。備案信息備案號:78234-2020備案月報: 2020年第11號(總第247號) ...
掃描探針顯微鏡中最為廣泛使用管狀壓電掃描器的垂直方向伸縮範圍比平面掃描範圍一般要小一個數量級,掃描時掃描器隨樣品表面起伏而伸縮,如果被測樣品表面的起伏超出了掃描器的伸縮範圍,則會導致系統無法正常甚至損壞探針。因此,掃描探針...
掃面探針顯微鏡是一種用於化學、生物學、材料科學、能源科學技術領域的分析儀器,於2014年9月26日啟用。技術指標 掃描器解析度:XY:0.2nm,Z:0.2?;整機噪音:≤0.2 ?;掃描器精度< span=>±0.5%;低干涉小範圍掃描器噪音...
JY/T 0582-2020掃描探針顯微鏡分析方法通則 JY/T 0583-2020聚焦離子束系統分析方法通則 JY/T 0584-2020掃描電子顯微鏡分析方法通則 JY/T 0585-2020金相顯微鏡分析方法通則 JY/T 0586-2020雷射掃描共聚焦顯微鏡分析方法通則 JY/T 0587-...
掃描探針顯微鏡控制系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2017年12月13日啟用。技術指標 ADC解析度≥16-bit,控制器噪音水平低於6nV/sqrt [Hz],可以測掃描隧道譜(STS),AFM模式微懸臂調製頻率:非接觸式4kHz– 3MHz,...
掃描電子顯微鏡分析和電子探針微區分析內容包括儀器的工作原理和分析方法。光譜分析內容包括光譜學基礎、原子光譜和分子光譜的簡介。掃描探針顯微鏡內容包括掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡的工作原理、工作模式及套用,介紹了X射線光電子能譜的原理...
8.5 電子探針分析方法及微區成分分析技術 第9章 材料表面分析技術 9.1 俄歇電子能譜分析 9.2 x射線光電子能譜分析 9.3 原子探針顯微分析 第10章 掃描探針顯微鏡 10.1 掃描探針顯微鏡(SPM)的基本原理 10.2 掃描隧道顯微鏡(STM)...
94電子探針顯微分析181 941EPMA原理和結構181 942X射線能譜儀181 943X射線波譜儀183 944定性分析184 945定量分析184 95其他電子成像技術結合EDS分析186 96EMPA掃描電子顯微鏡分析方法和 套用186...