掃描探針顯微鏡控制系統

掃描探針顯微鏡控制系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2017年12月13日啟用。

基本介紹

• 中文名：掃描探針顯微鏡控制系統
• 產地：中國
• 學科領域：物理學、材料科學
• 啟用日期：2017年12月13日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

ADC解析度≥16-bit，控制器噪音水平低於6nV/sqrt [Hz]，可以測掃描隧道譜（STS），AFM模式微懸臂調製頻率：非接觸式4kHz– 3MHz，輸出電壓範圍可調，包括0～±10V，0～±1V等。

主要功能

1、掃圖基本操作；2、掃描IV、dI/dV譜。