超高真空低溫掃描探針系統

超高真空低溫掃描探針系統是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器，於2019年10月12日啟用。

基本介紹

• 中文名：超高真空低溫掃描探針系統
• 產地：中國
• 學科領域：化學、材料科學
• 啟用日期：2019年10月12日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

XPS能量解析度：Ag 3d5/2 峰能量解析度優於0.5eV。

主要功能

超高真空原子力顯微鏡系統是一種國際領先的原子力顯微技術。通過對測量環境的嚴格控制（本底真空優於1*10-10mbar）以及對樣品及探針的冷卻（低於5K）可有效降低背景氣氛以及熱噪聲對於測量結果的影響。並且可直接觀測單個分子及其分子間的鍵合力，為說明分子鍵的形成和斷裂提供直接證據。