低溫掃描微波阻抗顯微鏡系統

低溫掃描微波阻抗顯微鏡系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2018年12月7日啟用。

基本介紹

• 中文名：低溫掃描微波阻抗顯微鏡系統
• 產地：美國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2018年12月7日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

1.6 K低溫，9 T磁場，3GHz微波工作頻率。

主要功能

測量材料表面微觀電導率。