低溫掃描探針顯微鏡控制系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2013年9月9日啟用。
低溫掃描探針顯微鏡控制系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2013年9月9日啟用。技術指標探針的位置在1h的漂移小於6Å，最小測量分辨接近2pm。在液氮和液氦下XY-coarse正常，進針正常。1主要功能該系統是德國C...
低溫掃描探針顯微鏡系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2017年1月22日啟用。技術指標 本台原位掃描隧道電子顯微鏡是一台多功能掃描探針顯微鏡，可用於各種外延生長低維半導體材料的表面形貌表征、IV測量、高分辨原子成像等，掃描精度可達0.1納米。主要功能 可用於各種微納材料的表面形貌表征、IV測量、高...
低溫強磁場掃描探針顯微鏡是一種用於物理學、化學領域的計量儀器，於2014年9月18日啟用。技術指標 1. 掃描探測溫度可降至1.8K；2. 可加外部垂直磁場，最高可達8T。主要功能 1. 具有原子級的超高空間解析度，並能實時觀測表面形貌，可用於研究表面物理和化學性質；2. 具有極高的能量解析度，可以進行掃描隧道譜探測...
掃描探針顯微鏡控制器是一種用於物理學領域的分析儀器，於2018年3月2日啟用。技術指標 電流輸入噪聲：5.8 pA(RMS)， 頻寬7 kHz； 輸入： /-10V，頻寬100 kHz，18bit，1MS/s； 輸出： /-10V，頻寬50 kHz，20bit，500 KS/s； 高壓輸出： /-150V，RMS噪聲小於49 �V (0-5 kHz)，輸出噪聲 3.0 mV...
掃描探針顯微鏡中最為廣泛使用管狀壓電掃描器的垂直方向伸縮範圍比平面掃描範圍一般要小一個數量級，掃描時掃描器隨樣品表面起伏而伸縮，如果被測樣品表面的起伏超出了掃描器的伸縮範圍，則會導致系統無法正常甚至損壞探針。因此，掃描探針顯微鏡對樣品表面的粗糙度有較高的要求；由於系統是通過檢測探針對樣品進行掃描時的...
快速掃描環境控制掃描探針顯微鏡是一種用於物理學、生物學、材料科學領域的分析儀器，於2018年9月28日啟用。技術指標 通過密封單元實現氣體和液體灌注；可將樣本溫度控制在0-250°C；與刺激性化學物質高度兼容；接觸模式DART™脈衝頻率調製高次諧波成像模式（Dual AC™）；雙頻共振追蹤壓電模式（DART）；靜電力顯微...
《高速掃描探針顯微鏡中的控制技術研究》是依託電子科技大學,由徐紅兵擔任醒目負責人的面上項目。項目摘要 掃描探針顯微鏡（SPM）在微電子學、微機械學、新型材料、電磁學、化學和生物醫學、納米技術、 納米製造和納米操作等領域具有廣泛的套用和巨大的套用前景。然而，SPM的工作速度已經成為SPM技術的瓶頸。當前的超高速...
《超高速掃描探針顯微鏡中的L1自適應控制理論研究》是依託浙江大學，由楊秦敏擔任項目負責人的青年科學基金項目。項目摘要 新一代超高速掃描探針顯微鏡（SPM）的研製是當今納米技術領域中的一項難題，而超高速納米定位系統更是其中的關鍵技術。本項目擬從理論和實驗套用兩個方面對其中的一些基本控制問題進行研究，採用L1自...
通常把三個分別代表X，Y，Z方向的壓電陶瓷塊組成三角架的形狀，通過控制X，Y方向伸縮達到驅動探針在樣品表面掃描的目的；通過控制Z方向壓電陶瓷的伸縮達到控制探針與樣品之間距離的目的。原子力顯微鏡（AFM）便是結合以上三個部分來將樣品的表面特性呈現出來的：在原子力顯微鏡（AFM）的系統中，使用微小懸臂（cantilever...
3.9 疊代學習控制的改進 75 3.10 疊代學習在掃描探針顯微鏡控制中的套用 75 3.10.1 掃描探針顯微鏡 75 3.10.2 掃描探針顯微鏡中的控制問題 75 3.10.3 疊代學習控制器的設計 76 3.10.4 實驗與結果分析 78 第4章 重複控制 83 4.1 概述 83 4.2 重複控制的基本原理 84 4.3 重複控制器組成結構及其...
低溫掃描探針顯微鏡系統 原子力顯微鏡 半導體特徵分析系統 低溫探針台 器件壽命測試系統 三聯裝手套箱蒸鍍系統 人才隊伍 所長：高永立，男，教授，博士生導師，中南大學超微結構與超快過程研究所所長，有機半導體界面方面的世界著名專家。迄今已應邀請纂寫學科綜述文章或書籍專章8篇, 發表論文200餘篇於自然-材料（Nature ...
