快速掃描環境控制掃描探針顯微鏡

快速掃描環境控制掃描探針顯微鏡是一種用於物理學、生物學、材料科學領域的分析儀器，於2018年9月28日啟用。

基本介紹

• 中文名：快速掃描環境控制掃描探針顯微鏡
• 產地：美國
• 學科領域：物理學、生物學、材料科學
• 啟用日期：2018年9月28日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

通過密封單元實現氣體和液體灌注；可將樣本溫度控制在0-250°C；與刺激性化學物質高度兼容；接觸模式DART™脈衝頻率調製高次諧波成像模式（Dual AC™）；雙頻共振追蹤壓電模式（DART）；靜電力顯微技術（EFM）；液態成像；力曲線模式；力映射模式（力曲線陣列模式）；力調製模式；調頻模式； 開爾文探針力顯微鏡（KPFM）；側向力模式（LFM）；損耗角正切模式；改進調頻制模式（MFM）；MicroAngelo™（納米光刻／納米操控）；相位成像模式；壓電回響力顯微鏡模式(PFM)；光譜開關PFM；輕敲模式（交流電模式）。

主要功能

高解析度成像，快速掃描， 精確溫控以及全面的納米力學表征。