基本介紹
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SPM掃描探針顯微鏡是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2009年7月22日啟用。技術指標原子力顯微鏡(AFM):橫向 0.26nm, 垂直 0.1nm(以雲母晶體標定);掃描隧道顯微鏡(STM):橫向 ...
掃描探針顯微鏡(Scanning Probe Microscope,SPM)是掃描隧道顯微鏡及在掃描隧道顯微鏡的基礎上發展起來的各種新型探針顯微鏡(原子力顯微鏡,靜電力顯微鏡,磁力顯微鏡,掃描離子電導顯微鏡,掃描電化學顯微鏡等)的統稱,是國際上近年發展起來的...
SPM模型是BOF模型的一個改進,其本質是:將圖像看作空間金字塔的第一層;然後對圖像進行劃分;這樣一步一步劃分就形成了空間金字塔模型。其他解釋 1.掃描探針顯微鏡(spm,即scanning probe microscope)2. 浮游粒子狀物質 3.自相位調製 Se...
《高速掃描探針顯微鏡中的控制技術研究》是依託電子科技大學,由徐紅兵擔任醒目負責人的面上項目。項目摘要 掃描探針顯微鏡(SPM)在微電子學、微機械學、新型材料、電磁學、化學和生物醫學、納米技術、 納米製造和納米操作等領域具有廣泛的...
從掃描探針顯微鏡(SPM)的原理、操作使用及相關功能套用,到主要配件掃描器的校正;從樣品製備、參數的選擇、數據處理、結果分析,到相關材料的新結構、新性能的認知、最終結果的確定以及實驗技巧等,均做了詳細介紹。本書適用於物理、化學、...
由於原子力顯微鏡既可以觀察導體,也可以觀察非導體,從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不足。原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的格爾德·賓寧於一九八五年所發明的,其目的是為了使非導體也可以採用類似掃描探針顯微鏡(SPM)的觀測方法。原...
研究一種基於微拉伸(micro-tensile)原理的薄膜力學性能測試方法,以單層及多層自由(free-standing)薄膜為測試對象,以MEMS致動器為載入部件,應變則由掃描探針顯微鏡(SPM)實時在位測得。藉由微應力及微應變的高解析度高精度測量,該...
首先,各條掃描線測量生成剖面。探針的測的的是樣品接近於AFM測量的結果。提升磁性探針高度,離樣品更遠一些。重複測量, 從中提取出磁性信號。掃描探針產品 掃描探針顯微鏡(SPM)不僅可以獲得樣品的表面形貌,藉助特殊的探針和檢測技術,還...
蘇州海茲思納米科技有限公司是一家專業從事掃描探針顯微鏡(SPM)及相關產品研發、生產和銷售的高科技企業,公司成立於2009年3月。坐落在國家級高新區-蘇州工業園區納米科技園,公司前身為上海海茲思光電科技有限公司。海茲思公司具備光學儀器及...
蘇州飛時曼精密儀器有限公司主要目前主要生產產品:SPM掃描探針顯微鏡(原子力顯微鏡)系列、顯微光譜儀系列、高清金相顯微鏡系列、3D層析測量顯微鏡系列、圖像尺寸測量儀系列、數字全息顯微鏡系列。裸眼3D立體顯微鏡系列、3D雷射掃描測量儀系列...
掃描探針顯微鏡(SPM)/原子力顯微鏡(AFM)掃描近場光學顯微鏡(SNOM/NSOM)原子顯微鏡(AFM)/掃描近場光學顯微鏡(SNOM/NSOM)/共聚焦拉曼(Confocal Raman)聯用系統 納米壓印(納米壓印設備、納米壓印膠、納米壓印模板、納米微加工)光...
王志紅 女,成都電子科技大學微電子與固體電子學院副教授,1966年2月出生。主要從事掃描電子顯微鏡、X-射線螢光光譜和掃描探針顯微鏡SPM(包括掃描隧道顯微鏡STM、原子力顯微鏡AFM、磁力顯微鏡MFM、電力顯微鏡EFM等)的測試方法研究以及材料與...