原位電子輸運掃描探針顯微鏡系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2015年12月21日啟用。
基本介紹
- 中文名：原位電子輸運掃描探針顯微鏡系統
- 產地：德國
- 學科領域：物理學、材料科學
- 啟用日期：2015年12月21日
- 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
真空：1?10-10 mbar，最低工作溫度：5K，溫度穩定性：10mK，可變溫度範圍：5K-300K，液氦消耗量：小於0.1L/小時 (5K)，掃描範圍：1μm?1μm?0.1μm (5K)，熱漂移：0.2nm/小時，振動噪音：2 pm，最小隧道電流：1pA，STM/AFM空間分辨：原子級分辨（0.1 nm），光學兼容性：掃描探頭上直接集成高數值孔徑 (N.A.=0.5) 的非球面鏡，磁場： 2特斯拉，原位電子輸運測量：掃描探頭上直接集成6個電極，電極的製備：利用掩膜技術和分子束外延技術在超高真空中原位沉積電極。
主要功能
實現在超高真空環境液氦溫度下（~5K）和液氮溫度下（77K）的掃描隧道顯微學研究，可以得到穩定可靠的原子分辨STM和AFM圖像，可以進行掃描隧道譜（STS），非彈性隧道譜（IETS）、分子與原子操縱、自旋極化STM、STM與光學譜、STM與電子輸運測量的結合等實驗。
