超低溫超高真空掃描探針顯微鏡是一種用於物理學領域的分析儀器，於2013年3月5日啟用。
基本介紹
- 中文名：超低溫超高真空掃描探針顯微鏡
- 產地：德國
- 學科領域：物理學
- 啟用日期：2013年3月5日
- 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
：(1). 工作溫度：5K-300K，具有原子解析度(垂直小於0.01nm，面內小於0.1nm)， 掃描範圍：大於2微米x 2微米(室溫下)。 (2). 原位光學聚焦透鏡，原位光纖系統，原位磁場2T。 (3). 樣品生長分析腔：可變溫的樣品架，溫度範圍100-2000K；樣品架可四維運 動(x,y,z平移和繞z軸的轉動)， sputter ion gun with controller (4). 超高真空部分：STM腔1.0 x 10-10mB，快進樣室1.0 x 10-8mB，樣品生長分。
主要功能
主要用於納米尺度時間空間高分辨研究：利用掃描隧道顯微鏡與光學，磁學技術融合，研究納米尺度物質表面結構，電子輸運，針尖誘導發光，納米體系動力學性質以及與自旋相關性質等。
