超高真空極低溫強磁場掃描探針顯微鏡系統

超高真空極低溫強磁場掃描探針顯微鏡系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2014年5月23日啟用。

基本介紹

• 中文名：超高真空極低溫強磁場掃描探針顯微鏡系統
• 產地：日本
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2014年5月23日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

系統最低工作溫度400 mK，三維矢量磁體磁場強度為9-2-2T，樣品腔真空度優於1.3×10-8Pa，掃描隧道顯微鏡最小解析度為0.05 nm。

主要功能

可以進行樣品解理，表面處理、原位鍍膜，並在低溫（400mK）和三維矢量強磁場（9-2-2T）下對通過掃描隧道譜測量，同時配備有可進行的近場光學測量的探針。