低溫掃描探針顯微鏡系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2017年1月22日啟用。
基本介紹
- 中文名:低溫掃描探針顯微鏡系統
- 產地:美國
- 學科領域:物理學、材料科學
- 啟用日期:2017年1月22日
- 所屬類別:分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡
低溫掃描探針顯微鏡系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2017年1月22日啟用。
低溫掃描探針顯微鏡系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2017年1月22日啟用。技術指標本台原位掃描隧道電子顯微鏡是一台多功能掃描探針顯微鏡,可用於各種外延生長低維半導體材料的表面形貌表征、IV測量、高分辨原...
低溫掃描探針顯微譜學系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2019年9月24日啟用。技術指標 1.無液氦系統; 2.低震動水平。在樣品區域,峰峰震動幅度小於1.2nm; 3.樣品降溫時間小於10小時; 4.磁場強度最高到9T。主要...
低溫磁場掃描探針顯微鏡是一種用於計算機科學技術領域的分析儀器,於2014年12月18日啟用。技術指標 8T垂直與樣品表面的磁場。 超高真空,各腔達到1x10-10torr的真空。 低溫達到2K。 掃描頭z方向的分辨小於0.02nm,XY的分辨小於0.05nm...
掃描探針顯微鏡中最為廣泛使用管狀壓電掃描器的垂直方向伸縮範圍比平面掃描範圍一般要小一個數量級,掃描時掃描器隨樣品表面起伏而伸縮,如果被測樣品表面的起伏超出了掃描器的伸縮範圍,則會導致系統無法正常甚至損壞探針。因此,掃描探針...
低溫強磁場掃描探針顯微鏡是一種用於物理學、化學領域的計量儀器,於2014年9月18日啟用。技術指標 1. 掃描探測溫度可降至1.8K;2. 可加外部垂直磁場,最高可達8T。主要功能 1. 具有原子級的超高空間解析度,並能實時觀測表面形貌,...
低溫掃描微波阻抗顯微鏡系統 低溫掃描微波阻抗顯微鏡系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2018年12月7日啟用。技術指標 1.6 K低溫,9 T磁場,3GHz微波工作頻率。主要功能 測量材料表面微觀電導率。
低溫掃描原子力成像系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2019年4月29日啟用。技術指標 AFM/STM;解析度:0.1 nm(XY),0.05 nm(Z);真空:1.8´10(-8 )Pa;溫度:7 K。主要功能 在低溫高真空環境下,實現...
分子束外延掃描探針顯微系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2018年12月7日啟用。技術指標 快速進樣室:材料為不鏽鋼304,腔體外徑為114mm,內壁電化學拋光處理 真空度:優於1.3�10-5Pa (焙燒前) 安放台:固定在磁力傳送桿上...
低溫原子結構分析與譜學測量系統 低溫原子結構分析與譜學測量系統是一種用於物理學、化學領域的分析儀器,於2018年6月30日啟用。技術指標 設備技術指標達到驗收要求。主要功能 低溫高真空原子力顯微鏡實驗。
掃描隧道顯微鏡控制系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2010年8月3日啟用。技術指標 主要性能指標:掃描範圍:2μm×2μm ;解析度:橫向~0.1nm;縱向~0.01nm;真空度:~10-8 Pa;最大尺寸樣品:~Φ10mm;變溫範圍:25K...
細胞晶片自動掃描顯微鏡系統是一種用於生物學、基礎醫學領域的分析儀器,於2011年6月8日啟用。技術指標 長壽命激發光源,CCD系統,自動平移載物台,自動對焦系統,DAPI,濾光塊,FITC濾光塊,TRITC專用濾光,配備計算機系統。主要功能 生物...
低溫掃描探針顯微鏡系統 原子力顯微鏡 半導體特徵分析系統 低溫探針台 器件壽命測試系統 三聯裝手套箱蒸鍍系統 人才隊伍 所長:高永立,男,教授,博士生導師,中南大學超微結構與超快過程研究所所長,有機半導體界面方面的世界著名專家。迄今...
表示銷售過程管理或銷售過程管理系統(Sales Process Management),也可以表示Scratch Pad Memory,即便箋式存儲器;或者表示表示每分鐘衝程次數;還有計算機軟體SPM系統、專用機器SPMC、SPM公司,在納米科學領域,SPM還表示掃描探針顯微鏡。
開發包括各類控制器、精密放大器、束源爐、低溫恆溫器等在內的一批核心關鍵部件,並先後主持或核心參與研製搭建了各類真空系統十餘台套,包括掃描探針顯微鏡系統、分子束外延系統、雷射分子束外延系統、原子層沉積系統等。
該刊被《SCI》(美)、《CA 》(美)、《Journal Abstracts in Russian》(俄羅斯)、中國科技論文與引文資料庫、中國知網中文科技期刊資料庫、萬方資料庫、中國科學引文資料庫、中國學術期刊文摘等重要檢索系統所收錄。該刊曾多次榮獲國家...
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