低溫掃描探針顯微鏡系統

低溫掃描探針顯微鏡系統

低溫掃描探針顯微鏡系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2017年1月22日啟用。

基本介紹

  • 中文名:低溫掃描探針顯微鏡系統
  • 產地:美國
  • 學科領域:物理學、材料科學
  • 啟用日期:2017年1月22日
  • 所屬類別:分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡
技術指標,主要功能,

技術指標

本台原位掃描隧道電子顯微鏡是一台多功能掃描探針顯微鏡,可用於各種外延生長低維半導體材料的表面形貌表征、IV測量、高分辨原子成像等,掃描精度可達0.1納米。

主要功能

可用於各種微納材料的表面形貌表征、IV測量、高分辨原子成像等,掃描精度可達0.1納米。

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