低溫掃描原子力成像系統

低溫掃描原子力成像系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2019年4月29日啟用。

基本介紹

• 中文名：低溫掃描原子力成像系統
• 產地：日本
• 學科領域：物理學、材料科學
• 啟用日期：2019年4月29日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

AFM/STM；解析度：0.1 nm（XY），0.05 nm（Z）；真空：1.8´10(-8 )Pa；溫度：7 K。

主要功能

在低溫高真空環境下，實現對分子、納米體系的高空間分辨成像及其隧道譜測量。