原子力掃描探針

原子力掃描探針是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2012年11月26日啟用。

基本介紹

• 中文名：原子力掃描探針
• 產地：美國
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2012年11月26日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器

技術指標

1.解析度： 0.50~0.55nm範圍內，2.系統噪聲≤0.2Å，3.系統成像模式及功能塊：接觸力成像模式、摩擦力成像模式、實現生物感測器電化學測試所需的成像模式、輕敲模式、電化學測量功能、相位定量成像模式、磁力成像模式、靜電力成像模式、用戶自定義掃描成像功能、力譜線自定義測量功能。

主要功能

生命科學 、材料科學、聚合物、電化學、納米刻蝕等的表面形貌分析。