原子力掃描探針是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2012年11月26日啟用。
基本介紹
- 中文名:原子力掃描探針
- 產地:美國
- 學科領域:材料科學
- 啟用日期:2012年11月26日
- 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器
原子力掃描探針是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2012年11月26日啟用。
原子力掃描探針是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2012年11月26日啟用。技術指標1.解析度: 0.50~0.55nm範圍內,2.系統噪聲≤0.2Å,3.系統成像模式及功能塊:接觸力成像模式、摩擦力成像模式、實現生物...
原子力掃描探針顯微鏡是一種用於生物學領域的分析儀器,於2012年12月21日啟用。技術指標 1. 大號掃描器 掃描範圍: 100 μm x 100 μm Z軸範圍: 7 μm 噪聲: 0.5? RMS 2. 小號掃描器 掃描範圍: 10 μm x 10 μm Z軸...
掃描探針顯微鏡(Scanning Probe Microscope,SPM)是掃描隧道顯微鏡及在掃描隧道顯微鏡的基礎上發展起來的各種新型探針顯微鏡(原子力顯微鏡,靜電力顯微鏡,磁力顯微鏡,掃描離子電導顯微鏡,掃描電化學顯微鏡等)的統稱,是國際上近年發展起來的...
掃描探針原子力顯微鏡 掃描探針原子力顯微鏡是一種用於物理學、材料科學領域的計量儀器,於2000年7月11日啟用。技術指標 可用於各種材料的表面形貌表征、單點IV測量、簡單的高分辨原子成像等。主要功能 測量樣品表面形貌。
原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope,簡稱AFM)利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力,從而達到檢測的目的,具有原子級的解析度。由於原子力顯微鏡既可以觀察導體,也可以觀察非導體,從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不...
掃描隧道顯微鏡 (Scanning Tunneling Microscope, 縮寫為STM) 是一種掃描探針顯微術工具,掃描隧道顯微鏡可以讓科學家觀察和定位單個原子,它具有比它的同類原子力顯微鏡更加高的解析度。此外,掃描隧道顯微鏡在低溫下(4K)可以利用探針尖端...
《掃描探針顯微鏡製備納米樣板及其量值溯源的研究》是依託西安交通大學,由景蔚萱擔任項目負責人的面上項目。中文摘要 本項目採用原子力顯微鏡(AFM)探針誘導陽極氧化工藝、掃描隧道顯微鏡(STM)探針電流誘導氧化工藝、AFM探針機械劃刻工藝分別...
11掃描探針顯微術1 12AFM的主要功能3 參考文獻6 第2章成像原理和儀器學7 21原子力顯微鏡的結構和成像原理7 22AFM探針9 221探針的結構9 222微懸臂的彈性常數10 223針尖的幾何形狀12 224功能化...
掃描探針顯微鏡自20世紀80年代初出現以來,在短短20年的時間裡,一直是各國科學家的研究熱點,並迅速發展成為一個含20多個品種的龐大顯微鏡家族。本書共分七章,依次向讀者展現:顯微鏡的發展歷史;系統介紹掃描隧道顯微鏡、原子力顯微鏡和...
原子力電子顯微鏡 原子力電子顯微鏡是在掃描隧道電子顯微鏡製造技術的基礎上發展起來的。它是利用移動探針與原子間產生的相互作用力,將其在三維空間的分布狀態轉換成圖像信息,從而得到物質表面原子及它們的排列狀態。
《掃描探針技術在若干前沿領域中的套用》是楊威生為項目負責人,北京大學為依託單位的重點項目。項目摘要 課題執行期間利用STM、AFM、MFM等手段對一系列材料的表面結構及性質進行研究,完成了課題預定目標:(1)研究MFM中磁性針尖與表面之間...
通用型原子力顯微鏡是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的計量儀器,於2013年5月30日啟用。技術指標 1、XY掃描範圍>40um, 2、與XY獨立分開的Z方向掃描器。最大掃描範圍>10um 3、掃描器解析度:XY開環<0.05nm,閉環<0....
原子力顯微鏡升級配件是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2015年12月26日啟用。技術指標 1、在峰值力輕敲模式的基礎上體現智慧型掃描功能:自動設定掃描,用戶只需要選擇掃描速度及掃描範圍,系統即可自動調整反饋, 自動調整...
數碼原子是即將進行的原子力顯微鏡研發的技術。賽克數碼即將進行的原子力顯微鏡研發計畫正是為了攻克這一技術難題,並設計出實用型產品而啟動。 納米技術指的是在...借鑑其方法,新型的顯微儀器和探測方法相繼問世,這就是掃描探針顯微鏡.
MFP-3D原子力顯微鏡是一種用於力學領域的分析儀器,於2019年4月18日啟用。技術指標 (1)XY掃描器範圍不小於80 μm×80 μm。(2)Z軸掃描器範圍不小於10 μm。(3)掃描器帶有閉環感測器,XY軸閉環感測器噪音不大於150 pm,Z軸...
原子力顯微系統是一種用於材料科學領域的計量儀器,於2014年1月1日啟用。技術指標 掃描模式:STM恆流/恆高模式;AFM接觸/橫向力/輕敲模式。納米加工功能:矢量刻蝕、圖形刻蝕;最大掃描範圍:50μm×50μm掃描器 ;直接達到HOPG原子...
表面掃描探針顯微系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2009年10月15日啟用。技術指標 SPM解析度:7*7矽表面原子分辨;溫度範圍:30K~1000K;背景真空:2*10^-10Torr;掃描範圍:5微米;偏壓:0~5V。主要功能 能夠提供全部的原子...
布魯克原子力顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2015年9月11日啟用。技術指標 90µm x 90µm x 10µm(三方向閉環掃描器) ≤0.3 Å (全球最高水平) <0.2nm/min 可持續穩定得到原子級解析度 5M像素點,可視...
低溫掃描原子力成像系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2019年4月29日啟用。技術指標 AFM/STM;解析度:0.1 nm(XY),0.05 nm(Z);真空:1.8´10(-8 )Pa;溫度:7 K。主要功能 在低溫高真空環境下,實現...
超高真空低溫掃描探針系統是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器,於2019年10月12日啟用。技術指標 XPS能量解析度:Ag 3d5/2 峰能量解析度優於0.5eV。主要功能 超高真空原子力顯微鏡系統是一種國際領先的原子力顯微技術。通過對測量...
開爾文探針顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2013年9月2日啟用。技術指標 可持續穩定得到原子級圖像。用原子力顯微鏡模式對雲母樣品進行5-10nm範圍的掃描成像,測量圖像中相鄰雲母原子的間距值;要求測量值在:0.5-0.55nm範圍內...
磁力顯微鏡(Magnetic force microscope.MFM)是一種原子力顯微鏡,通過磁性探針掃描磁性樣品,檢測探針和磁性樣品表面的相互作用以重構樣品表面的磁性結構。很多種類的磁性相互作用可以通過磁力顯微鏡測量,包括磁偶相互作用。磁力顯微鏡掃描經常...
磁力顯微術是指利用磁性探針與樣品間的磁互動作用去取得表面磁化結構的一種掃描探針顯微術 (scanning probe microscopy, SPM),在 1987 年時, Martin 及 Wickramasinghe 首先利用原子力顯微術 (atomic force microscopy, AFM) 的非接觸式...
壓電力顯微鏡是在商用原子力顯微鏡的基礎上配備四象限光探測器、導電探針、函式發生器和兩個鎖相放大器。PFM的探針以接觸模式對試樣進行掃描,信號發生器所產生的交流電壓施加於PFM探針與試樣底電極之間,PFM微懸臂背面所反射的雷射束強度...
原子力顯微鏡技術 原子力顯微鏡(Atomic Force Microscopy,AFM)是由IBM公司的Binning與史丹福大學的Quate於1985年發明的,其目的是為了使非導體也可以採用掃描探針顯微鏡(SPM)進行觀測。原子力顯微鏡通過探針與被測樣品之間的微弱的相互...
掃描探針顯微鏡是一類高度複雜新型微觀物性分析 I具的總稱,用探針探測材料微區信號, 正在物理、化學、 材料等領域研究前沿發揮出重要作用。磁力顯微鏡作為其種類之一,除了 基於原子力獲取表面形貌像,還將樣品表面雜散磁場的分布圖形化,可以...