原子力顯微術及其套用

基本信息

作　者：楊序綱，楊瀟著

出版社：化學工業出版社

ISBN：9787122128096

出版時間：2012-03-01

版　次：1

裝　幀：精裝

開　本：32開

編輯推薦

《原子力顯微術及其套用》既可作為從事材料研究和生產的科技人員以及生物、生物物理和生物醫學領域的科研工作者的參考書，又可作為高等學校相關專業的教材。

內容簡介

《原子力顯微術及其套用》扼要闡述了原子力顯微術的成像基本原理、針尖、表面相互作用過程、儀器學，以及操作模式和成像模式、圖像偽跡和測量誤差等主要實驗技術，著重介紹了這一最近發展起來的材料分析方法在合成聚合物和生物材料研究中的套用，涉及從分子原子到微米尺度的結構分析和材料表面微觀尺度的力學和物理性質。

目錄信息

第1章緒論1

11掃描探針顯微術1

12AFM的主要功能3

參考文獻6

第2章成像原理和儀器學7

21原子力顯微鏡的結構和成像原理7

22AFM探針9

221探針的結構9

222微懸臂的彈性常數10

223針尖的幾何形狀12

224功能化針尖15

23試樣準備15

參考文獻17

第3章AFM 的操作模式和成像模式18

31接觸模式19

311接觸模式高度像19

312偏差像21

313側向力像22

32非接觸模式25

33輕敲模式26

331輕敲模式高度像27

332相位像28

333振幅Ao和設定比rsp的設定30

34力曲線和力調製模式成像35

341力曲線35

342力調製模式成像36

參考文獻38

第4章圖像偽跡和測量誤差39

41雙針尖效應39

42針尖尖銳度的影響41

43光學干涉條紋43

44熱漂移44

45掃描器性能的影響44

46振動引起的偽跡46

參考文獻47

第5章表面形貌和表面粗糙度48

51表面粗糙度及其AFM測定48

52塗料表面的形貌和粗糙度50

53纖維表面的形貌和粗糙度53

531玻璃纖維的表面53

532陶瓷纖維的表面55

54液晶聚合物的表面結構59

55共混聚合物的表面形貌60

551PS/PMMA表面形貌像61

552聚合物的摩擦力顯微術63

56微孔材料的表面66

57超薄薄膜的觀測68

58納米壓痕試驗73

581實驗技術和數據分析73

582玻璃纖維表面的彈性模量75

原子力顯微術及其套用

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