《材料表征的近代物理方法》是2013年科學出版社出版的圖書，作者是楊序綱、吳琪琳。
基本介紹
- 書名：材料表征的近代物理方法
- 出版社：科學出版社
- 頁數：380頁
- 開本：5
- 品牌：科學出版社
- 作者：楊序綱 吳琪琳
- 出版日期：2013年6月1日
- 語種：簡體中文
- 定價：98.00
內容簡介,圖書目錄,
內容簡介
《材料表征的近代物理方法》可作為材料及其相關領域的高校教師和科技工作者的參考用書，也可用作相關專業研究生和高年級本科生的教材。《材料表征的近代物理方法》簡要闡述用於材料表征的幾種傳統物理方法，包括電子顯微術、X射線衍射術、電子衍射術、紅外吸收光譜術和成分分析方法等。主要篇幅用於闡述幾種近代物理方法，包括雷射拉曼光譜術、原子力顯微術、同步輻射X射線術和多方法聯用術。《材料表征的近代物理方法》對各種近代物理方法的基本原理做了簡單介紹，著重於闡明如何使用這些方法，它們在材料表征中能夠提供哪些信息，各自的適用範圍，以及優缺點的比較等。此外，還列舉了各種技術的套用實例。 《材料表征的近代物理方法》可作為材料及其相關領域的高校教師和科技工作者的參考用書，也可用作相關專業研究生和高年級本科生的教材。
圖書目錄
前言
第1章緒論
1.1材料表征的意義和內容
1.2材料微觀結構表征的物理方法
第2章材料表征的傳統方法
2.1透射電子顯微術
2.1.1概述
2.1.2儀器和工作模式
2.1.3圖像襯度形成機制
2.1.4選區電子衍射
2.1.5試樣製備技術
2.2掃描電子顯微術
2.2.1.概述
2.2.2掃描電鏡的成像原理和結構
2.2.3高速電子流與固體物質的相互作用
2.2.4結構細節、解析度和襯度
2.2.5圖像襯度機制
2.2.6試樣準備
2.2.7圖像解釋
2.2.8套用實例
2.3 X射線衍射術
2.3.1布拉格定律
2.3.2單晶體衍射
2.3.3多晶體衍射
2.3.4 X射線衍射術的最近進展
2.4紅外吸收光譜術
2.4.1基本原理
2.4.2分子的振動形式
2.4.3紅外光譜四要素
2.4.4紅外光譜術的套用
2.4.5紅外光譜新技術
2.5材料的成分分析
2.5.1特徵X射線分析
2.5.2背散射電子分析
2.5.3俄歇電子分析
2.5.4 X射線光電子能譜分析
參考文獻
第3章同步輻射x射線術
3.1引言
3.1.I同步輻射光源的發生
3.1.2同步輻射光源發展簡史
3.1.3同步輻射光源的構造
3.1.4同步輻射光源的優點
3.1.5同步輻射的套用概述
3.2 x射線吸收精細結構
3.2.1 XAFS簡介
3.2.2 XAFS裝置
3.2.3 XAFS實驗方法和樣品製備
3.2.4 XAFS的套用實例
3.3同步輻射X射線衍射技術
3.3.1 SR—XRD簡介
3.3.2同步輻射X射線單晶衍射技術
3.3.3同步輻射X射線多晶衍射技術
3.3.4套用實例
3.4 同步輻射小角X射線散射
3.4.1 SR—SAXS簡介
3.4.2 SR—SAXS套用實例
3.5同步輻射其他線站的新進展
3.5.1同步輻射軟X射線譜學顯微光束線站
3.5.2硬X射線微聚焦線站
3.5.3生物大分子晶體學線站
參考文獻
第4章原子力顯微術
4.1原子力顯微術的主要功能和適用領域
4.1.1 SPM、STM和AFM
4.1.2 AFM的主要功能
4.1_3幾種顯微術的比較
4.2基本原理和儀器學
4.2.1儀器結構和成像原理
4.2.2 AFM探針
4.2.3針尖
4.3操作模式
4.4成像模式
4.4.1高度像
4.4.2相位像
4.4.3設定比
4.4.4偏差像
4.4.5側向力像
4.4.6力調製模式像
4.4.7力曲線和納米力學圖
4.5試樣準備
4.5.1概述
4.5.2切片術和表面切平術
4.5.3斷裂面術
4.5.4大分子試樣的準備
4.6圖像解釋
4.6.1針尖引起的偽跡
4.6.2光學干涉條紋
4.6.3熱漂移
4.6.4掃描器性能的影響
4.6.5振動引起的偽跡
4.6.6針尖力的影響
4.7材料表征的AFM套用
4.7.1聚合物材料
4.7.2碳材料
4.7.3複合材料
參考文獻
第5章雷射拉曼光譜術
5.1拉曼光譜術的適用範圍
5.2拉曼散射和拉曼光譜
5.2.1拉曼散射和瑞利散射
5.2.2拉曼峰的頻移、強度、峰寬和偏振
5.2.3溫度和壓力對拉曼峰的影響
5.2.4定量分析和定性分析
5.3儀器和主要技術
5.3.1拉曼光譜儀
5.3.2顯微拉曼光譜術
5.3.3纖維光學拉曼光譜術
5.3.4增強拉曼光譜術
5.3.5拉曼光譜的噪聲及其減除
5.3.6試樣準備和安置
5.4拉曼光譜術的套用
5.4.1成分鑑別
5.4.2聚合物的分子結構
5.4.3結晶結構
5.4.4取向結構
5.4.5共混聚合物的相結構
5.4.6界面微觀結構
5.4.7界面微觀力學
參考文獻
第1章緒論
1.1材料表征的意義和內容
1.2材料微觀結構表征的物理方法
第2章材料表征的傳統方法
2.1透射電子顯微術
2.1.1概述
2.1.2儀器和工作模式
2.1.3圖像襯度形成機制
2.1.4選區電子衍射
2.1.5試樣製備技術
2.2掃描電子顯微術
2.2.1.概述
2.2.2掃描電鏡的成像原理和結構
2.2.3高速電子流與固體物質的相互作用
2.2.4結構細節、解析度和襯度
2.2.5圖像襯度機制
2.2.6試樣準備
2.2.7圖像解釋
2.2.8套用實例
2.3 X射線衍射術
2.3.1布拉格定律
2.3.2單晶體衍射
2.3.3多晶體衍射
2.3.4 X射線衍射術的最近進展
2.4紅外吸收光譜術
2.4.1基本原理
2.4.2分子的振動形式
2.4.3紅外光譜四要素
2.4.4紅外光譜術的套用
2.4.5紅外光譜新技術
2.5材料的成分分析
2.5.1特徵X射線分析
2.5.2背散射電子分析
2.5.3俄歇電子分析
2.5.4 X射線光電子能譜分析
參考文獻
第3章同步輻射x射線術
3.1引言
3.1.I同步輻射光源的發生
3.1.2同步輻射光源發展簡史
3.1.3同步輻射光源的構造
3.1.4同步輻射光源的優點
3.1.5同步輻射的套用概述
3.2 x射線吸收精細結構
3.2.1 XAFS簡介
3.2.2 XAFS裝置
3.2.3 XAFS實驗方法和樣品製備
3.2.4 XAFS的套用實例
3.3同步輻射X射線衍射技術
3.3.1 SR—XRD簡介
3.3.2同步輻射X射線單晶衍射技術
3.3.3同步輻射X射線多晶衍射技術
3.3.4套用實例
3.4 同步輻射小角X射線散射
3.4.1 SR—SAXS簡介
3.4.2 SR—SAXS套用實例
3.5同步輻射其他線站的新進展
3.5.1同步輻射軟X射線譜學顯微光束線站
3.5.2硬X射線微聚焦線站
3.5.3生物大分子晶體學線站
參考文獻
第4章原子力顯微術
4.1原子力顯微術的主要功能和適用領域
4.1.1 SPM、STM和AFM
4.1.2 AFM的主要功能
4.1_3幾種顯微術的比較
4.2基本原理和儀器學
4.2.1儀器結構和成像原理
4.2.2 AFM探針
4.2.3針尖
4.3操作模式
4.4成像模式
4.4.1高度像
4.4.2相位像
4.4.3設定比
4.4.4偏差像
4.4.5側向力像
4.4.6力調製模式像
4.4.7力曲線和納米力學圖
4.5試樣準備
4.5.1概述
4.5.2切片術和表面切平術
4.5.3斷裂面術
4.5.4大分子試樣的準備
4.6圖像解釋
4.6.1針尖引起的偽跡
4.6.2光學干涉條紋
4.6.3熱漂移
4.6.4掃描器性能的影響
4.6.5振動引起的偽跡
4.6.6針尖力的影響
4.7材料表征的AFM套用
4.7.1聚合物材料
4.7.2碳材料
4.7.3複合材料
參考文獻
第5章雷射拉曼光譜術
5.1拉曼光譜術的適用範圍
5.2拉曼散射和拉曼光譜
5.2.1拉曼散射和瑞利散射
5.2.2拉曼峰的頻移、強度、峰寬和偏振
5.2.3溫度和壓力對拉曼峰的影響
5.2.4定量分析和定性分析
5.3儀器和主要技術
5.3.1拉曼光譜儀
5.3.2顯微拉曼光譜術
5.3.3纖維光學拉曼光譜術
5.3.4增強拉曼光譜術
5.3.5拉曼光譜的噪聲及其減除
5.3.6試樣準備和安置
5.4拉曼光譜術的套用
5.4.1成分鑑別
5.4.2聚合物的分子結構
5.4.3結晶結構
5.4.4取向結構
5.4.5共混聚合物的相結構
5.4.6界面微觀結構
5.4.7界面微觀力學
參考文獻
