掃描探針技術在若干前沿領域中的套用

《掃描探針技術在若干前沿領域中的套用》是楊威生為項目負責人，北京大學為依託單位的重點項目。

基本介紹

• 中文名：掃描探針技術在若干前沿領域中的套用
• 項目類別：重點項目
• 項目負責人：楊威生
• 依託單位：北京大學
• 負責人職稱：教授
• 批准號：19634010
• 研究期限：1997-01-01至2000-12-31
• 申請代碼：A2004
• 支持經費：80 (萬元) 

項目摘要

課題執行期間利用STM、AFM、MFM等手段對一系列材料的表面結構及性質進行研究，完成了課題預定目標：（1）研究MFM中磁性針尖與表面之間的相互作用，在磁力顯微鏡（MFM）的成象機理和套用方面取得了較好的進展；（2）改進和完善背景道電子發射顯微鏡，探討了界面納米加工的物理機制；（3）在材料表、界面的納米級加工方面進行了較為系統的實驗，並且提出了相應的物理模型；（4）研究了一系列表面有機分子吸附系統，套用分子動力學方法和量化計算方法進一步探討了液晶吸附分子STM成象機理；（5）利用原子力顯微鏡中的力譜線分析方法研究高聚物薄膜中的不同組分的表面粘附力差別，以及蛋白質膜間的粘附力變化特徵。