掃描探針微鏡

掃描探針微鏡是一種用於化學領域的分析儀器，於2004年6月9日啟用。主要功能:表面形貌分析，表面側向力分析，表面磁力分析。

基本介紹

• 中文名：掃描探針微鏡
• 產地：美國
• 學科領域：化學
• 啟用日期：2004年6月9日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

最大水平掃描範圍：10μm；最大垂直掃描範圍：3μm；掃描頻率：1-3Hz。

主要功能

表面形貌分析，表面側向力分析，表面磁力分析。