電化學掃描探針顯微鏡

電化學掃描探針顯微鏡是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器，於2009年12月10日啟用。

基本介紹

• 中文名：電化學掃描探針顯微鏡
• 產地：德國
• 學科領域：化學、材料科學
• 啟用日期：2009年12月10日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

位系統解析度：Z: 100 nm + Piezo 5 nm；X, Y: 100 nm (ElProScan)；X, Y: 15 nm (ElProScan HR)。掃描範圍：50mm （全方位）。Z軸壓電材料參數： Lateral Guiding：1 nm; 解析度：1nm；重現性：室溫下+/-10nm；行程：100μm; 回響時間：4ms。雙恆電位儀探針電位：±10 V；樣品電位：±10 V ；槽壓: ±20 V；電流靈敏度：每量程0。

主要功能

探針掃描方式：（1）逼近：自動逼近樣品表面；（2）線性掃描：探針線上性掃描X,Y或Z軸的同時記錄探針電流、探針電位、樣品電流和樣品電位；（3）平面掃描：探針做平面掃描(X,Y)，同時記錄探針電流、探針電位。