掃描形貌儀

掃描形貌儀

掃描形貌儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2015年3月10日啟用。

基本介紹

  • 中文名:掃描形貌儀
  • 產地:美國
  • 學科領域:化學
  • 啟用日期:2015年3月10日
  • 所屬類別:分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡
技術指標,主要功能,

技術指標

大範圍掃描器:XY 方向掃描範圍大於 120 um,Z 方向不小於 5 um; 高分辯掃描器: XY 方向掃描範圍大於 10 um,Z 方向不小於 2.5 um; 掃描器噪音:RMS<0.3 Å (垂直方向),橫向解析度:0.2 nm (XY方向); 掃描方式:高分辨掃描,掃描管驅動樣品掃描,探針支架、探針及雷射頭掃描過程中保持位置恆定; 進針方式:智慧型自動進針方式(採用馬達加壓電陶瓷自動探測的智慧型進針模式,保護探針及樣品); 智慧型掃描功能,只需選擇掃描速度及掃描範圍,無需尋找共振峰,無需調整反饋參數gain值(可直接液體環境成像); 可通過熱振動方式標定探針微懸臂彈性常數,標定範圍:≥ 2 MHz; Digital Q control 技術(可數字控制 Q 值,提高信噪比); 最大成像解析度達到一條線大於16000 點; 系統可實現 Lift Mode 的控制,抬高模式(對於表面磁學、電學特徵的表征); 控制精度:控制器應在每根軸上至少有 3 個的 16 位的數模轉換器 DAC (共9個),用來控制掃描尺寸、掃描形狀和偏移量,掃描數字解析度不依賴於掃描尺...。

主要功能

掃描探針顯微鏡(SPM) 能夠在大氣及液體環境下準確地觀測樣品表面微區(納米及亞微米尺度)三維形貌;同時可對樣品表面物理化學特性進行研究,能測試多種材料如纖維材料、膜材料、生物材料、高分子材料等非金屬材料以及金屬材料、複合材料的多種物性,包括表面組分區別、溫度、表面電勢、磁場力、靜電力、摩擦力、電流、掃描隧道顯微鏡和其他表面力以及電化學相互作用力的測量。

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