多功能掃描探針是一種用於數學領域的分析儀器，於2016年12月1日啟用。
基本介紹
- 中文名：多功能掃描探針
- 產地：中國
- 學科領域：數學
- 啟用日期：2016年12月1日
- 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
噪音水平：ICON Head＜30 pm RMS, FastScan Head＜40 pm RMS掃描範圍： ICON Head 90μm×90μm×10μm, FastScan Head 35μm×35μm×3μm附加功能1.AFM形貌成像（包含接觸，輕敲，峰值力輕敲模式）2.MFM磁力顯微鏡3.EFM靜電力顯微鏡4.KPFM表面電勢顯微鏡5.LFM摩擦力顯微鏡6.TUNA遂穿電流模式7.PFM壓電回響顯微鏡（含附加高壓模組）8.STM掃描隧道顯微鏡9.H/C MODEL升降溫模組10.PF-QNM定量納米力學11.RAMP力曲線12.FORCE-VOLUME力曲線陣列13.液下成像14.EC-AFM電化學模組（包含升溫模組）15.SECM掃描電化學顯微鏡16.Photoconductive AFM光電流檢測17.納米刻蝕功能。
主要功能
全國範圍內，掃描探針顯微鏡的附加功能配備最全的設備之一，包含形貌功能，磁學，電學，力學，電化學等，其中的掃描電化學功能，是目前唯一對外開的實驗室。
