多功能掃描探針顯微鏡

多功能掃描探針顯微鏡是一種用於地球科學、材料科學、能源科學技術、化學工程領域的儀器，於2004年11月01日啟用。

基本介紹

• 中文名：多功能掃描探針顯微鏡
• 產地：美國
• 學科領域：地球科學、材料科學、能源科學技術、化學工程
• 啟用日期：2004年11月01日

技術指標

掃描範圍：125μm×125μm×0.5μm，掃描解析度：0.3。

主要功能

微觀形貌、結構分析。